[发明专利]无线数据卡辐射杂散频点测试方法无效
| 申请号： | 200610149918.8 | 申请日： | 2006-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN101165498A | 公开（公告）日： | 2008-04-23 |
| 发明（设计）人： | 李成恩;王卫中;张亮;刘卫刚;李广峰;郭绪斌 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/10;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 张岱 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 无线数据 辐射 杂散频点 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
(1)将插有待测数据卡的笔记本电脑放入屏蔽室中，启动待测数据卡；
(2)用一综合测试仪与所述待测数据卡建立通信连接；
(3)用频谱分析仪连接一近场电波接受小探头，所述近场电波接受小探头紧贴待测数据卡放置；
(4)所述频谱分析仪通过近场电波接受小探头接收待测数据卡的辐射杂散能量。
2.根据权利要求1所述的无线数据卡辐射杂散频点测试方法，其特征在于：步骤(1)中待测数据卡通过PCMCIA-PCMCIA转接板连接在笔记本电脑的PCMCIA插槽中。
3.根据权利要求1所述的无线数据卡辐射杂散频点测试方法，其特征在于：所述近场电波接受小探头为磁流环或电流环。
4.根据权利要求3所述的无线数据卡辐射杂散频点测试方法，其特征在于：所述近场电波接受小探头前端连接有隔直流电容。
5.根据权利要求1所述的无线数据卡辐射杂散频点测试方法，其特征在于：步骤(4)中频谱分析仪接收待测数据卡的辐射杂散能量之前，设置测量带宽为开始频率30Mhz，截止频率1000Mhz，所述频谱分析仪的RBW、VBW、衰减、参考电平设置为自动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司，未经中兴通讯股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610149918.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：乳酸菌发酵胡萝卜制备工艺及其产品
- 下一篇：紫露草花期促控方法
