[发明专利]无线数据卡辐射杂散频点测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法。

背景技术

目前，全球数字移动用户已经达到13亿，而且该数字有望在未来几年内翻一番。据预测，2008年全球通信业将呈现高达20亿移动用户数的巨大市场。

全球的移动业务和应用正朝着语音、多媒体和企业应用这三个主要方向增长。移动数据业务将在移动市场中拥有越来越大的份额。截至2003年9月，全球移动数据业务用户达到1亿人，占全球12.9亿移动用户的7.7％，与2003年6月份的统计结果相比增长了14％。到2007年，移动数据业务所占比例将从2002年的10％上升至30％，移动服务市场本身将成为6千亿欧元的市场。

目前许多运营商的数据收入已经占到其总收入的15％。作为用户使用数据业务的载体--无线数据卡的需求很大。现在大批的数据卡在进入市场前，要经过各种认证测试，其中有一项就是对产品的辐射杂散有明确的指标限制。而在做辐射杂散测试时这项指标对测试环境的要求很高——必须要到技术要求很高的微波无反射暗室去做如图1所示。

在微波暗室中，将被测无线数据卡插到笔记本中放到转台上之后，关闭暗室的门，与外界的环境完全屏蔽隔开，模拟基站——综测仪输出端口连接到呼叫天线(简称天线B)，由天线B对被测件发起呼叫，呼叫成功后，辐射杂散接受系统连接到接受天线(简称天线A)，由天线A开始接受被测件(简称EUT)发出的杂散信号，天线A可以接收30MHz-1000MHz的所有电磁信号，它将接收到的所有信号传给辐射杂散接受系统最后端——频谱仪，频谱仪上会峰值保持。当接收天线开始工作以后，被测件所在的转台就开始工作，在转台转动的过程中天线A不断地将接收到的数据刷新，并保持峰值。在被测件旋转一周后，天线A要升高1米再测试一遍，因为刚开始时的位置是与转台上的被测件一样高(距地面1米)，最后将两次转动后的总峰值显示出来，就是被测数据卡最终的辐射杂散测试结果。

对于大多数的数据卡厂商来说，建一个微波暗室加上测试仪器，其费用相当高昂，达千万人民币，不现实。目前数据卡制造厂家采取的方法是：1.到有条件的单位租借他方的暗室和仪表来进行测试。2.到专业的测试机构测试。遇到指标测试不合格需要调试的产品(大多数产品一次通过测试的几率很小)。厂家的工程师往往要长时间占用暗室一边调试一边测试，对数据卡制造厂家而言其过程耗时长，效率低，费用高。

发明内容

针对现有技术存在的缺陷和不足，本发明提供一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法，能够借助低成本的屏蔽室环境完成原本需要高成本的微波暗室环境才能完成的无线数据卡辐射杂散频点测试。

为了达到上述发明目的，本发明无线数据卡辐射杂散频点测试方法，包括以下步骤：

(1)将插有待测数据卡的笔记本电脑放入屏蔽室中，启动待测数据卡；

(2)用一综合测试仪与所述待测数据卡建立通信连接；

(3)用频谱分析仪连接一近场电波接受小探头，所述近场电波接受小探头紧贴待测数据卡放置；

(4)所述频谱分析仪通过近场电波接受小探头接收待测数据卡的辐射杂散能量。

其中，步骤(1)中待测数据卡通过PCMCIA-PCMCIA转接板连接在笔记本电脑的PCMCIA插槽中。

上述的无线数据卡辐射杂散频点测试方法中，所述近场电波接受小探头为磁流环或电流环。

上述的无线数据卡辐射杂散频点测试方法中，所述近场电波接受小探头前端连接有隔直流电容。

上述的无线数据卡辐射杂散频点测试方法中，步骤(4)中频谱分析仪接收待测数据卡的辐射杂散能量之前，设置测量带宽为开始频率30Mhz，截止频率1000Mhz，所述频谱分析仪的RBW、VBW、衰减、参考电平设置为自动。

本发明能够避免在正式的辐射杂散认证测试前厂家频繁的租借微波暗室和专用仪表去测试、调试辐射杂散指标，节约花费上千万建微波暗室的这部分资金.提供一个实用的测试、调试环境，给企业节约费用，给工程师提供方便，缩短产品开发周期。

附图说明

图1为微波无反射暗室中辐射杂散测试环境示意图；

图2为综合测试仪连接螺旋天线示意图；

图3为数据卡通过PCMCIA-PCMCIA转接板连接到笔记本示意图；

图4为综合测试仪与数据卡建立呼叫链接示意图；

图5为近场电波接受小探头连接高精度频谱分析仪示意图；

图6为近场电波接受小探头扫描数据卡示意图；

图7为屏蔽室中用近场电波接受小探头连接高精度频谱分析仪测试数据卡的辐射杂散系统示意图；