[发明专利]电子元件耐压测试设备及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子元件电参数测试设备及方法，尤其涉及一种电子元件耐压测试设备及方法。

背景技术

随着科学技术的发展，越来越多的电子产品走向市场。电子产品中使用的电子元件如二极管、三极管等电晶体性能的稳定，成为电子产品能否耐用的重要衡量标准。因此，在电子产品出厂前要对其使用的电子元件进行严格性能测试，尤其是耐压测试。

如图5所示，目前，常见电子元件耐压测试设备500主要包括：单片机510、数字模拟转换器520、功率放大电路530和变压器540。其中，所述单片机510产生数字信号；所述数字模拟转换器520将所述数字信号转化为模拟信号；所述功率放大电路530将所述模拟信号功率放大，得到功率放大信号；所述变压器540将所述功率放大信号进行升压，以得到测试信号。测试时，基于所述测试信号，采用人工方式利用电压表对电子元件的耐压值进行测试。

以上电子元件耐压测试设备500，其测试信号为正弦波信号全周期电压，包括正向电压和反向电压，其反向电压会影响所述测试信号的占空比，从而对电子元件测试精度造成影响。

发明内容

鉴于此，有必要提供一种精确的电子元件耐压测试设备。

此外，还有必要提供一种精确的电子元件耐压测试方法。

一种电子元件耐压测试设备，包括：波形发生单元，用于产生振荡信号；功率放大单元，用于将所述振荡信号功率放大，以得到功率放大信号；变压单元，用于改变所述功率放大信号电压，以得到变压信号；信号调节单元，用于隔离所述变压信号中的反向电压信号以得到测试信号；检测模块，用于根据所述测试信号检测待测元件，以得到检测数据。

一种电子元件耐压测试方法，包括如下步骤：产生振荡信号；放大所述振荡信号功率，以获得功率放大信号；改变上述功率放大信号电压，以获得变压信号；隔离所述变压信号中的反向电压信号以得到测试信号；根据所述测试信号检测待测元件，得到检测数据。

上述电子元件耐压测试设备及方法通过隔离所述变压信号中的反向电压信号以得到测试信号，避免了反向测试电压对电子元件耐压值测试的影响，从而提高了电子元件耐压测试精度。

附图说明

图1为较佳实施方式电子元件耐压测试设备整体方框图。

图2为图1所示电子元件耐压测试设备详细方框图。

图3为图2所示信号产生模块、数据处理模块及检测模块具体结构电路图。

图4为较佳实施方式电子元件耐压测试方法流程图。

图5为传统电子元件耐压测试设备方框图。

具体实施方式

如图1所示，电子元件耐压测试设备100用于测试待测元件200的耐压值。待测元件200为电容、二极管、三极管等有使用电压上限规定的电子元件。

电子元件耐压测试设备100包括信号产生模块110、检测模块120、控制模块130、显示模块140及夹持装置150。

信号产生模块110与待测元件200相连，用于向待测元件200提供测试信号。检测模块120与待测元件200相连以检测待测元件200的耐压值。控制模块130分别与检测模块120、显示模块140及夹持装置150相连，控制模块130用于接收检测模块120的检测数据，根据检测数据控制显示模块140进行显示并控制夹持装置150夹取和释放待测元件200。

请参阅图2，其为更为详细的电子元件耐压测试设备100的示意图。信号产生模块110包括波形发生单元112、功率放大单元114、变压单元116和信号调节单元118。

波形发生单元112用于产生振荡信号，波形发生单元112可以是电阻与电容串联而成的模拟振荡回路与时基电路组成的波形发生电路，或其他正弦波或方波产生电路。

功率放大单元114用于将波形发生单元112产生的振荡信号功率放大，以获得功率放大信号，功率放大单元114可以为集成电路或半导体三极管等。

变压单元116用于改变所述功率放大信号电压，以获得变压信号，变压单元116可以是普通的变压器。

信号调节单元118用于将变压单元116产生的变压信号进行信号调节以产生测试信号，所述信号调节可以是限流调节、整流调节、杂讯处理调节等电信号调节处理。

经信号调节单元118将调节后的测试信号传送到待测元件200。检测模块120根据该测试信号对待测元件200的耐压值进行检测，并将检测数据传送至控制模块130。检测模块120可以是数字电压表或者数字万用表。