[发明专利]孔内壁影像检视方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种孔内壁影像检视方法及装置，尤指一种利用二个相对应的一第一反射面与一第二反射面进行导光，而架构成一光路简单及结构简化的孔内壁检视的技术。

背景技术

目前，随着工业的发达，各项产品的加工精度要求也愈来愈严格。而工业制品中，孔的加工经常可见，尤其是金属零组件，经常需要以各式的加工技术，例如钻、铣、或化学蚀刻等技术，来使金属零组件上被加工形成孔洞。

由于加工过程中，有时会因为各种的因素，例如灰尘、杂屑，或加工机器或机件的不良或不稳定，造成孔洞内壁面受到损伤，而形成所谓的瑕疵。此时，若未能将其在孔洞内已产生有瑕疵的部件，在进行利用之前，先将瑕疵检视出来，以做汰换或预做处理，一旦利用之后，对于后绩的利用产生严重的影响时，其更大的损失就更令人后悔不及。因此，为了避免前述的遗憾情事发生，公知已有人开发出专门供操作人员来检视加工部件的孔内壁中是否有瑕疵的检视装置。

就本发明人所知，公知用来检视孔内壁的技术已很多，例如美国第4,865,448号专利案，是利用一个具有反射面的杆体伸人孔内，再自外部一个反射镜后方投射雷射光束，穿透反射镜，并经反射面而至孔内壁，再由孔内壁反射以同一光路回至反射镜，经反射镜反射至感测器。然而，以该前案技术所设计的光路，其只能针对一个贯穿两端的孔才能检视，对于一端封闭的孔则不适用，否则雷射光会受到杆体的阻挡而无法导至孔内壁，因此该前案技术对于孔的适用性受到了限制。

再如日本公开第平-2-95205号专利案，其是于一导光用筒体内面形成光的反射面，并于筒体的一端设反射锥面，再将光源自筒体一侧呈具角度的方式射向筒内壁，经多次反射后抵达待检视的孔内壁，再以反射锥面将光反射到筒体另一端，并经几个透镜聚光而至感测器接收。然而，该前案技术，光路较为复杂，设计精度必须很高，且须加设多个透镜聚光，整体结构及组件较为复杂，不仅成本高，而且维护不易。

此外，也有日本公开第特开平10-318727号专利案，其技术基本上也是在一导光体(如光纤)内面形成光反射面，并在导光体一端设一兼具透光及反射光的反射锥面，将光源导至待检视的孔内壁，再经由反射锥面及导光体回传至感测器。然而，此一专利技术与上一个日本专利案技术原理很类似，都是透过折射及反射，精密的角度计算来设计而成，其所要求的加工精度很高，相对成本高，同样地也是会产生日后维护不易的问题。

有监于以上所提几个公知专利前案技术所产生的问题，及产制一个光路与结构简化，易于制造及维护的孔内壁检视装置有迫切的需求性。本发明人凭借着多年的研究开发经验，积极投入研发，经多次的设计与试验后，开发出确实可以改善上述公知技术缺失，及可达成本发明目的的技术。

发明内容

本发明的第一目的，是在提供一种可简便检视孔内壁及提高检视效果的方法。而达成此目的的主要具体方法，是准备间隔固定的一第一反射面与一第二反射面，使第二反射面移人待检视的孔内，再将光源投射至第一反射面而反射至位在孔内的第二反射面，并由位在孔内的第二反射面将光束反射至该孔内壁，再以位在孔内的第二反射面接收来自该孔内壁反射回来的影像，并将影像反射至一影像感测器接收，最后由该影像感测器将影像讯号传送出去以供利用及显示。

本发明的第二目的，在提供一种结构简化，成本低，及易于维护的孔内壁影像检视装置。其具体结构包括一个本体，用以定位相互固定间隔的一第一反射面与一第二反射面，及光源以提供光束经第一反射面及第二反射面投射至待检视的孔内壁，再将孔内壁影像直接反射至一影像感测器，再传送出去做显示或利用，以此简化的光路架构，即可达成孔内壁的检视，因而确实可达成上述的目的。

本发明的具体技术方案如下：

一种孔内壁360度影像检视装置，其包括：

一个纵伸的本体，具有第一端、第二端，及延伸连接该第一端与该第二端的中心纵轴；

至少一光源；

间隔地定位在该本体上且相互朝向并可相互反射光束的一第一反射面及一第二反射面，该第一反射面临近该本体的该第一端，并用以反射来自该光源的初始光束，该第二反射面临近该本体的该第二端，用以将来自该第一反射面所反射来的初始光束反射至待检视的孔内壁，及将孔内壁反射回来的检测影像朝该本体的该第一端反射；及

一光束感测器，用以接收该第二反射面将来自孔内壁反射回来的检测影像的感测器。

一种孔内壁影像检视装置，其包括：

一个纵伸的本体，具有第一端、第二端，及延伸连接该第一端与该第二端的中心纵轴；

至少一光源；