[发明专利]错误覆盖分析法

权利要求书

1.一种错误覆盖分析方法，适用于分析一产品的多个晶片测试项目，以决定该产品的一测试模块，其包括：

依序对该产品的多个测试标的物进行所述晶片测试项目，其中，根据每一测试项目产生相对应的一测试涵盖范围；

于一数据库中，根据所述晶片测试项目相对应储存所述测试涵盖范围；以及

根据该数据库中的每一所述晶片测试项目的相对应所述测试涵盖范围，选择部份所述晶片测试项目组成一测试模块，其中该测试模块的一错误覆盖范围是组成该测试模块的部份所述晶片测试项目的相对应所述测试涵盖范围的一联集。

2.如权利要求1所述的错误覆盖分析方法，其中每一所述测试涵盖范围包括至少所述测试标的物的其中之一。

3.如权利要求1所述的错误覆盖分析方法，其中该错误覆盖范围包括所有所述测试标的物。

4.如权利要求1所述的错误覆盖分析方法，其中至少所述测试涵盖范围其中之二彼此互相重迭。

5.如权利要求1所述的错误覆盖分析方法，其中组成该测试模块的部份所述晶片测试项目的数量，不大于原本所述测试项目的总数量。

6.如权利要求1所述的错误覆盖分析方法，其中决定组成该测试模块的部份所述测试项目的参考因子还包括一后段工艺的一错误回馈报告。

7.如权利要求6所述的错误覆盖分析方法，其中该错误回馈报告至少相对应于所述晶片测试项目其中之一。

8.一种错误覆盖分析方法，适用于一产品，其中该产品具有多个测试标的物，其包括：

提供多个测试项目；

以每一所述测试项目分别测试该产品，并相对应产生一测试涵盖范围，其中该测试涵盖范围至少包括所述测试标的物其中之一；

根据所述测试涵盖范围，建立一错误覆盖数据库，其中对于每一所述测试项目，纪录该测试项目可有效测试的所述测试标的物，而所述有效测试的测试标的物组成该测试涵盖范围；

分析该错误覆盖数据库以决定一测试模块，其中该测试模块包括部份所述测试项目，且该测试模块的一错误覆盖范围包括所有所述测试标的物；以及

根据一后段工艺的一错误回馈报告，调整该测试模块中的所述测试项目的组合。

9.如权利要求8所述的错误覆盖分析方法，其中每一所述测试涵盖范围包括至少所述测试标的物的其中之一。

10.如权利要求8所述的错误覆盖分析方法，其中该错误覆盖范围为组成该测试模块的部份所述测试项目的所述测试涵盖范围的联集。

11.如权利要求8所述的错误覆盖分析方法，其中至少所述测试涵盖范围其中之二彼此互相重迭。

12.如权利要求8所述的错误覆盖分析方法，其中组成该测试模块的部份所述晶片测试项目的数量，不大于原本所述测试项目的总数量。

13.如权利要求8所述的错误覆盖分析方法，其中该错误回馈报告至少相对应于所述晶片测试项目其中之一。