[发明专利]显示设备有效
申请号: | 200610170073.0 | 申请日: | 2006-12-18 |
公开(公告)号: | CN101170123A | 公开(公告)日: | 2008-04-30 |
发明(设计)人: | 林旷修;李征焕 | 申请(专利权)人: | LG电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L23/26;H01L51/50;H01L51/52;H05B33/12;H05B33/04 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 钟强;夏凯 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 设备 | ||
相关申请的交叉引用
本申请要求了2006年10月24日提交的韩国专利申请No.10-2006-0103658的优先权,其内容通过全文引用并入本发明中。
技术领域
本发明涉及一种显示设备,其能够防止吸收剂层与设置在该显示设备中的各个部件相接触。
背景技术
图1示出了现有技术的有机发光设备的简化剖视图。
如图1所示,作为一种显示设备,有机发光设备包括设置在基片1上的像素部分。包括在所述像素部分中的阳极电极2和阴极电极4分别与设置在所述像素部分外侧上的数据线以及扫描线相连接。数据线和扫描线的端部设置在基片1的至少一个边缘上,并形成焊盘部分。
随后,像素部分、数据线和扫描线通过使用密封剂接合到基片1的盖从而与外部隔离。
在有机发光设备中包含的各个部件,特别是设置在阳极电极2上的有机发光层3可能会由于高温和潮湿而损坏,因此,为了保护有机发光设备的各个部件免受外部环境的影响而将盖接合到基片1上。
然而,很难完全防止外部环境中存在的水汽和氧气通过盖和附有盖的基片1之间的微小间隙进入有机发光设备的内部空间(即盖和基片1之间的空间)。
为了除去进入有机发光设备内部空间的水汽或氧气,在所述盖的内表面附有吸收剂层。
由化学材料构成的吸收剂层通过与水汽发生化学反应从而吸收水汽,由此除去盖和基片1之间的内部空间中存在的水汽。上述吸收剂层的吸收功能可以防止有机发光设备的各个部件不会因为水汽而被损坏。
可以在很多质量测试期间将例如振动、冲击等外力施加在有机发光设备的盖上。如果将外力施加在厚度较薄的盖上,则所述盖被朝着基片1的方向压下去。
此外,为了增大有机发光设备的尺寸,应当增加盖的尺寸,由此,具有较薄厚度和较大尺寸的盖会由于其自身重量而发生弯折。
因此,由于外力或盖的重量所导致弯折,从而使得附在盖内表面的吸收剂层可能与像素部分的阴极电极4相接触。
在由化学材料构成的吸收剂层和由金属构成的阴极电极4之间的接触区域处发生了化学反应。吸收剂层的高化学活性加快了化学反应,由此阴极电极4受到了损伤,且甚至从基片1剥离。阴极电极4的损伤和阴极电极4的剥落对有机发光设备的功能具有负面的影响。
如果由金属构成的阴极电极4被剥离,则金属粒子与阴极电极4分离。上述金属粒子位于各阴极电极4之间,由此阴极电极4可能被金属粒子短路。
上述问题出现在显示设备的运输、操作以及使用期间,并且在显示设备的质量测试期间也会出现上述问题。
附图说明
将要参考以下附图详细描述各个实施例,其中相同的参考数字指得是相同的部件。
图1示出了现有技术的有机发光设备的简化剖视图。
图2示出了根据本发明第一实施例的有机发光设备的平面图。
图3示出了沿着图2的线B-B所取的根据本发明第一实施例的有机发光设备的剖视图。
图4示出了根据本发明第一实施例的有机发光设备的盖的底部的平面图。
图5a示出了沿着图4的线C-C所述的根据本发明第一实施例的有机发光设备的剖视图。
图5b示出了对应于图5a的、根据本发明第二实施例的有机发光设备的剖视图。
图5c示出了对应于图5a的、根据本发明第三实施例的有机发光设备的剖视图。
图5d示出了对应于图5a的、根据本发明第四实施例的有机发光设备的剖视图。
图6示出了根据本发明第五实施例的有机发光设备的盖的底部的平面图。
图7到9示出了比较例、试验实例1和2的湿度吸收试验结果和氧气吸收试验结果的曲线图。
图10和11示出了时间与水汽吸收量变化的曲线图。
具体实施方式
本发明的目的在于提供一种用于防止吸收剂层与像素部分相接触的显示设备。
以下,将参考附图更详细地说明根据本发明实施例的显示设备。此外,将出于说明目的而对有机发光设备进行阐释。然而,本发明并不局限于有机发光设备。
图2示出了根据本发明的第一实施例的有机发光设备的平面图,且示出了其上未附有盖的有机发光设备。
图3示出了沿着图2的线B-B所取的根据本发明第一实施例的有机发光设备的剖视图。根据本发明第一实施例的有机发光设备包括:像素部分100a,其具有阳极电极、设置在阳极电极上的有机发光层、以及设置在所述有机发光层上的阴极电极。阳极电极和阴极电极分别与数据线112和扫描线114相连接,所述数据线112和扫描线114被设置在像素部分100a的外侧上。
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
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