[发明专利]粒状物体的检查方法及实施该方法的检查装置无效
申请号: | 200680005617.6 | 申请日: | 2006-02-20 |
公开(公告)号: | CN101175990A | 公开(公告)日: | 2008-05-07 |
发明(设计)人: | 奥斯卡·万格斯;白泽满 | 申请(专利权)人: | 松下电工株式会社 |
主分类号: | G01N21/85 | 分类号: | G01N21/85;A61J3/00;G06T1/00;G06T7/60 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 | 代理人: | 申健 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 粒状 物体 检查 方法 实施 装置 | ||
1.一种粒状物体的检查方法,其是对作为检查对象的含有粒状物体的摄像区域进行摄像,被摄像到的图像的各像素的像素值经数字化的数字图像内,对应于粒状物体的物体区域进行多个接触,形成一个块状区域时,通过从该块区域将上述各个物体区域的分离,检查摄像区域内存在的粒状物体的粒状物体检查方法;其特征在于,该法具有:
从上述数字图像中把上述块区域作为图像处理的对象区域提取出来的第一提取处理;以及,
在通过上述第一提取处理所提取的对象区域的内侧,沿该对象区域的轮廓线分散设定多个参照点的设定处理;以及
对于上述设定的各个参照点,从该参照点开始对通过上述对象区域的区域内部可以看透的其他参照点数进行计数的计数处理;以及
从上述对象区域内存在的多个参照点,把通过上述计数处理的计数值最小的参照点作为基准点提取的第二提取处理;以及
从通过上述第二提取处理提取的基准点开始,将通过上述对象区域的区域内部可以看透的参照点加以全部选择,被选择的参照点及上述基准点间可以互相连接的区域,作为粒状物体的物体区域提取的第三提取处理;以及,
从通过上述第三提取处理提取的对象区域,除去上述物体区域后的区域作为新的对象区域进行提取的第四提取处理;
把反复进行上述第二至第四提取处理而提取的基准点数作为粒状物体的个数进行计数。
2.按照权利要求1中所述的粒状物体检查方法,其中还具有第五提取处理,即对于每个通过反复进行上述第二至第四提取处理而提取的多个基准点,通过上述第一提取处理提取的对象区域的区域内部,将仅能看透上述基准点中的一点的全部参照点,作为属于该基准点的基准点所属参照点提取;其特征在于:
反复进行上述第二至第四提取处理而提取的基准点与上述第五提取处理而提取的属于该基准点的全部基准点所属参照点互相连接,生成连接段;
上述生成的全部连接段围起来的区域,作为对应于该基准点的物体区域。
3.按照权利要求2中所述的粒状物体检查方法,其特征在于,对于每个通过反复进行上述第二至第四提取处理而提取的多个基准点,将属于通过上述第五提取处理提取的该基准点的全部基准点所属参照点内的两点互相连接,生成连接段。
4.按照权利要求3中所述的粒状物体检查方法,其特征在于,还具有第六提取处理,其从上述全部参照点开始,把上述第五提取处理提取的基准点所属参照点除外的参照点,作为未判别参照点提取;
从经该第六提取处理而提取的该未判别参照点开始,通过由上述第一提取处理所提取的对象区域的区域内部可以看透的物体区域,被定为对应于该未判别参照点的物体区域;
与上述被决定的物体区域对应的基准点与基准点所属参照点与未判别参照点中的两点互相连接,生成连接段。
5.按照权利要求3中所述的粒状物体检查方法,其特征在于,还具有第六提取处理,其从上述全部参照点开始,把上述第五提取处理所提取的基准点所属参照点除外的参照点,作为未判别参照点提取;
从上述第六提取处理中提取的未判别参照点开始,大致一定的角度形成了放射状延伸的数条探索线;
通过上述所形成的各探索线,与采用上述第五提取处理提取的属于该基准点的全部基准点所属参照点内的两点互相连接成的连接段达到交叉的区域,可以加入对应于交叉的连接段的物体区域。
6.按照权利要求2中所述的粒状物体检查方法,其特征在于,还具有第六提取处理,其从上述全部参照点,把上述第五提取处理所提取的基准点所属参照点除外的参照点,作为未判别参照点提取;
从通过上述第六提取处理提取的该未判别参照点开始,将通过上述第一提取处理提取的对象区域的区域内部所能看透的物体区域,定为对应于该未判别参照点的物体区域;
与上述被决定的物体区域对应的全部基准点与基准点所属参照点与未判别参照点内的两点互相连接,生成连接段。
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