[发明专利]鉴别癌症/异型细胞和粒子团的方法及细胞分析仪无效
申请号: | 200680009845.0 | 申请日: | 2006-03-14 |
公开(公告)号: | CN101151517A | 公开(公告)日: | 2008-03-26 |
发明(设计)人: | 石坂正树;井邨泰之;岸和希 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14;G01N21/64;C12Q1/02;G01N33/48 |
代理公司: | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁朝玉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 鉴别 癌症 异型 细胞 粒子 方法 分析 | ||
1.一种细胞鉴别方法,其特征在于:
用流式细胞仪测定多个细胞;
获得各个细胞的散射光信号;
通过分析各散射光信号波形,计算出至少一个特征参数;
用所述特征参数从所述多个细胞中区鉴别出癌/异型细胞。
2.根据权利要求1所述方法,其特征在于:细胞为宫颈部位细胞。
3.根据权利要求1或2所述方法,其特征在于:所述特征参数反映所述散射光信号波形的形态特征。
4.根据权利要求1或2所述方法,其特征在于:所述特征参数至少为下列参数中的一项:标准二阶矩、波形起伏度、差分积分值/峰值、幅宽/峰值、面积/(幅宽×峰值)、峰值左侧面积与峰值右侧面积之间的比值。
5.根据权利要求1或2所述方法,其特征在于:通过结合两个或两个以上的特征参数将癌/异型细胞从多个细胞中鉴别出来。
6.根据权利要求5所述方法,其特征在于:特征参数之一为信号幅宽。
7.根据权利要求2所述方法,其特征在于:特征参数用于鉴别癌/异型细胞和白细胞团。
8.根据权利要求7所述方法,其特征在于:特征参数为差分积分值/峰值、标准二阶矩和波形起伏度的其中之一。
9.根据权利要求2所述方法,其特征在于:特征参数用于鉴别癌/异型细胞和正常扁平上皮细胞。
10.根据权利要求9所述方法,其特征在于:特征参数为幅宽、半值幅宽、差分积分值/峰值、标准二阶矩和波形起伏度的其中之一。
11.根据权利要求2所述方法,其特征在于:特征参数用于鉴别癌/异型细胞和正常扁平上皮细胞团。
12.根据权利要求11所述方法,其特征在于:特征参数为幅宽、半值幅宽、面积、差分积分值/峰值、标准二阶矩和波形起伏度的其中之一。
13.一种粒子团鉴别方法,其特征在于:
用流式细胞仪测量多个粒子;
获得各个粒子的散射光信号;
通过分析各散射光信号波形,计算出至少一个特征参数;
用所述特征参数从所述多个粒子中鉴别粒子团。
14.权利要求10所述方法,其特征在于:特征参数为标准二阶矩和差分积分值/峰值其中之一。
15.一种用于鉴别癌/异型细胞的细胞分析仪,其特征在于:
用于形成含细胞的试样流的流动室;
用于照射流动室中上述试样流的光源;
检测所述试样流细胞发出的散射光并输出散射光信号的检测部分;
通过分析上述输出散射光信号波形算出一个以上特征参数的波形分析部分;
根据算出的上述特征参数从前述细胞中鉴别癌/异型细胞的控制部分。
16.权利要求15所述细胞分析仪,其特征在于:细胞是宫颈部位细胞。
17.权利要求15~16之一所述细胞分析仪,其特征在于:所述特征参数为标准二阶矩、幅宽、波形起伏度、差分积分值/峰值、峰值、幅宽/峰值、面积/(幅宽×峰值)、峰值左侧面积与峰值右侧面积之间的比值。
18.权利要求15所述细胞分析仪,其特征在于:所述特征参数为差分积分值/峰值、标准二阶矩和波形起伏度的其中之一,所述控制部分根据上述特征参数鉴别癌/异型细胞和白细胞团。
19.权利要求15所述细胞分析仪,其特征在于:所述特征参数为幅宽、半值幅宽、差分积分值/峰值、标准二阶矩和波形起伏度的其中之一,所述控制部分根据上述特征参数鉴别癌/异型细胞和正常扁平上皮细胞。
20.权利要求15所述细胞分析仪,其特征在于:所述特征参数为幅宽、半值幅宽、面积、差分积分值/峰值、标准二阶矩和波形起伏度的其中之一,所述控制部分根据上述特征参数鉴别癌/异型细胞和正常扁平上皮细胞团。
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