[发明专利]传送带磨损检测装置有效

专利信息
申请号: 200680012168.8 申请日: 2006-04-12
公开(公告)号: CN101160250A 公开(公告)日: 2008-04-09
发明(设计)人: 相泽聪;东宪一;西北行伸 申请(专利权)人: 株式会社普利司通
主分类号: B65G43/02 分类号: B65G43/02;B65G43/08;G01B7/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 传送带 磨损 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种传送带磨损检测装置,其中,在带体中沿所述带体的长度方向以不同的深度埋设沿厚度方向被磁化的多个磁片,检测所述磁片的磁力变化的磁传感器位于所述磁片通过的位置。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,沿所述带体的长度方向阶段性地变深或变浅地布置沿厚度方向被磁化的多个磁片以构成一个单元,使多个所述单元沿所述带体的长度方向或宽度方向错位。

3.一种传送带磨损检测装置,其中,以相同的深度埋设沿厚度方向被磁化的多个磁片,使所述多个磁片沿带体的长度方向或宽度方向错位,检测所述磁片的磁力变化的磁传感器位于所述磁片通过的位置。

4.一种传送带磨损检测装置,其中,将带体沿长度方向划分成多个检测区域,在同一检测区域中以相同的深度并且在不同的检测区域中以不同的深度埋设沿厚度方向被磁化的多个磁片,使所述多个磁片沿所述带体的长度方向或宽度方向错位,检测所述磁片的磁力变化的磁传感器位于所述磁片通过的位置。

5.根据权利要求1或4所述的检测装置,其特征在于,以不同的深度埋设的多个磁片被布置成沿所述带体的长度方向阶段性地变深或变浅。

6.根据权利要求3或4所述的检测装置,其特征在于,沿所述带体的长度方向或宽度方向错位的、以相同的深度埋设的多个磁片被布置成平面位置阶段性地改变。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的检测装置,其特征在于,出现在多个磁片表面的磁极都相同。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的检测装置,其特征在于,所述多个磁片包括使磁体粉末在橡胶基质中分散并混合、成形为片状并且沿厚度方向被磁化的粘结磁体。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置包括控制器,所述控制器计数由所述磁传感器检测的所述磁片的磁力峰值的数量,通过该计数数量,检测所述磁片的脱落,从而检测所述带体的磨损程度和磨损位置。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置包括控制器,所述控制器基于由所述磁传感器检测出的所述磁片的磁力峰值的变化模拟地检测所述带体的磨损程度。

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