[发明专利]存储器结构及其编程方法有效

专利信息
申请号: 200680013713.5 申请日: 2006-02-23
公开(公告)号: CN101501781A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 李驰楠 申请(专利权)人: 飞思卡尔半导体公司
主分类号: G11C16/04 分类号: G11C16/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 付建军
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 存储器 结构 及其 编程 方法
【权利要求书】:

1.一种用于对存储器件进行编程的方法,该方法包括:

选择要编程的单元,其中所述单元与位线耦接;

施加第一编程脉冲,其中施加第一编程脉冲包括施加第一电压到 所述位线以及施加第三电压到所述单元的阱;

验证在施加第一编程脉冲之后所述单元是否被编程;以及

如果在施加第一编程脉冲之后所述单元没有被编程,则在施加第 一编程脉冲之后施加第二编程脉冲到所述位线,其中施加第二编程脉 冲包括施加第二电压到所述位线以及施加第四电压到所述单元的阱, 其中第二电压与第一电压不同,并且第四电压大于第三电压。

2.如权利要求1所述的方法,其中第二电压小于第一电压。

3.如权利要求1所述的方法,其中施加第一编程脉冲和第二编 程脉冲还包括施加第一编程脉冲和第二编程脉冲到所述单元的漏极。

4.如权利要求1所述的方法,还包括:

验证在施加第二编程脉冲之后所述单元是否被编程;以及

重复施加第二编程脉冲以及验证在施加第二编程脉冲之后所述 单元是否被编程的步骤,直到所述单元被编程。

5.如权利要求2所述的方法,其中利用阱偏压施加第二编程脉 冲。

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