[发明专利]存储器结构及其编程方法有效
申请号: | 200680013713.5 | 申请日: | 2006-02-23 |
公开(公告)号: | CN101501781A | 公开(公告)日: | 2009-08-05 |
发明(设计)人: | 李驰楠 | 申请(专利权)人: | 飞思卡尔半导体公司 |
主分类号: | G11C16/04 | 分类号: | G11C16/04 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 付建军 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 结构 及其 编程 方法 | ||
1.一种用于对存储器件进行编程的方法,该方法包括:
选择要编程的单元,其中所述单元与位线耦接;
施加第一编程脉冲,其中施加第一编程脉冲包括施加第一电压到 所述位线以及施加第三电压到所述单元的阱;
验证在施加第一编程脉冲之后所述单元是否被编程;以及
如果在施加第一编程脉冲之后所述单元没有被编程,则在施加第 一编程脉冲之后施加第二编程脉冲到所述位线,其中施加第二编程脉 冲包括施加第二电压到所述位线以及施加第四电压到所述单元的阱, 其中第二电压与第一电压不同,并且第四电压大于第三电压。
2.如权利要求1所述的方法,其中第二电压小于第一电压。
3.如权利要求1所述的方法,其中施加第一编程脉冲和第二编 程脉冲还包括施加第一编程脉冲和第二编程脉冲到所述单元的漏极。
4.如权利要求1所述的方法,还包括:
验证在施加第二编程脉冲之后所述单元是否被编程;以及
重复施加第二编程脉冲以及验证在施加第二编程脉冲之后所述 单元是否被编程的步骤,直到所述单元被编程。
5.如权利要求2所述的方法,其中利用阱偏压施加第二编程脉 冲。
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