[发明专利]用于生产含有微细填料的硅氧烷组合物的方法无效

专利信息
申请号: 200680017522.6 申请日: 2006-05-11
公开(公告)号: CN101180355A 公开(公告)日: 2008-05-14
发明(设计)人: C·韦尔纳;F·阿亨巴赫 申请(专利权)人: 瓦克化学股份公司
主分类号: C08K9/06 分类号: C08K9/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 程大军
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 生产 含有 微细 填料 硅氧烷 组合 方法
【权利要求书】:

1.一种用于生产包含表面处理的微细填料的硅氧烷组合物的方法,其中

(a)表面处理的微细填料(A)与聚有机硅氧烷(B)的混合在含2~10个硅原子且不含可水解或可缩合官能团的低分子量有机硅化合物(C)的存在下进行,或

(b)将包含表面处理的微细填料(A)与聚有机硅氧烷(B)的混合物与含2~10个硅原子且不含可水解或缩合官能团的低分子量有机硅化合物(C)进行均相混合,

并且基于低分子量有机硅化合物(C),含有填料的硅氧烷组合物随后去除低分子量有机硅化合物(C)到至少80%的程度,所述表面处理的微细填料(A)、聚有机硅氧烷(B)及有机硅化合物(C)各自可以是单一物质或多种物质的混合物。

2.权利要求1的方法,其中将总共5~150重量份的表面处理的微细填料(A)混入100重量份的聚有机硅氧烷(B)和0.01~30重量份的有机硅化合物(C)以及,如果需要,至多10重量份的其它组分的混合物中。

3.权利要求1或2的方法,其中将总共0.01~30重量份的有机硅化合物(C)混入100重量份的聚有机硅氧烷(B)和5~150重量份已在单独工序中进行表面处理的微细填料(A)的混合物中。

4.权利要求1-3之一的方法,其中所述表面处理的微细填料(A)由于表面处理而具有的碳含量为至少0.01~不大于20重量%,优选为0.1~10重量%,特别优选为0.5~5重量%。

5.权利要求1-4之一的方法,其中所述填料(A)的BET比表面积为至少50m2/g,优选为100~800m2/g,特别优选为150~400m2/g。

6.权利要求1-5之一的方法,其中所述填料(A)为热解或沉淀二氧化硅,特别优选热解二氧化硅。

7.权利要求1-6之一的方法,其中所述聚有机硅氧烷(B)的聚合度为50~10 000,优选100~5000,特别优选100~2000。

8.权利要求1-3之一的方法,其中所述有机硅化合物(C)为含2~10个硅原子的线性、支链或环状低聚硅氧烷,优选六甲基二硅氧烷、八甲基三硅氧烷、1,3-二乙烯基四甲基二硅氧烷、八甲基环四硅氧烷、十甲基环五硅氧烷或1,3,5,7-四乙烯基-1,3,5,7-四甲基环四硅氧烷,特别优选六甲基二硅氧烷。

9.权利要求1-8之一的方法,其中所述表面处理的微细填料(A)已经用选自通式(I)或(II)的硅烷和包括通式(III)的单元的有机聚硅氧烷的疏水剂进行处理:

R14-xSiAx    (I)

(R13Si)yB    (II)

其中

R1基为相同或不同的单价、未取代或卤素取代的含1~12个碳原子的烃基,

A为卤素、-OH、-OR2或-OCOR2

B为-NR33-y

R2基为相同或不同的含1~12个碳原子的单价烃基,

R3为氢原子或具有R1的含义之一,

x为1、2或3,并且

y为1或2,

R4zSiO(4-z)/2    (III),

其中

R4基为相同或不同的单价、未取代或卤素取代的含1~12个碳原子的烃基;卤原子;或羟基、-OR2或-OCOR2基,并且

z为1、2或3。

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