[发明专利]用于修正成像规律图案的辉纹的方法和设备无效
申请号: | 200680020045.9 | 申请日: | 2006-04-06 |
公开(公告)号: | CN101194199A | 公开(公告)日: | 2008-06-04 |
发明(设计)人: | V·卡拉修克;H·R·茨维克;W·D·张;J·V·卡斯帕;S·阿夫鲁泽 | 申请(专利权)人: | 加拿大柯达图形通信公司 |
主分类号: | G02B26/10 | 分类号: | G02B26/10;G02B27/00;H04N1/028;G02B5/20 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳;陈景峻 |
地址: | 加拿大英*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 修正 成像 规律 图案 方法 设备 | ||
1.一种校准包括多个成像通道的成像头的方法,该方法包括:
在由成像头成像的一个或多个扫描带内成像要素的规律图案,其中要素的规律图案:
在至少副扫描方向上重复,和
包括至少由多个成像通道的第一部分成像的第一要素和由多个成像通道的第二部分成像的第二要素,第一和第二部分都少于所有的成像通道,并且第一要素和第二要素都成像在一个或多个扫描带中的同一个扫描带内;
测量第一和第二要素中每一个的光学属性;和
至少部分地基于所测量的光学属性,调整下列至少之一内的一个或多个成像通道:
所述多个成像通道的第一部分,和
所述多个成像通道的第二部分,其中:
在进行要素的规律图案的后续成像时,使得第一和第二要素的光学属性基本上相同。
2.按照权利要求1所述的方法,其中对规律图案进行成像包括在热转印工艺中成像所述规律图案。
3.按照权利要求1所述的方法,其中测量第一和第二要素中每一个的光学属性包括测量第一要素和第二要素中每一个的光学密度。
4.按照权利要求3所述的方法,其中测量第一和第二要素的光学密度包括测量在第一主扫描位置上的第一和第二要素中每一个的光学密度。
5.按照权利要求4所述的方法,包括测量至少第二主扫描位置上第一和第二要素中每一个的光学密度。
6.按照权利要求5所述的方法,其中测量第一和第二要素中每一个的光学密度包括用扫描仪系统扫描第一和第二要素。
7.按照权利要求6所述的方法,包括沿着副扫描方向扫描第一和第二要素。
8.按照权利要求6所述的方法,包括在焦点之外扫描第一和第二要素。
9.按照权利要求7所述的方法,包括输出来自扫描仪系统的扫描数据,该扫描数据包括至少:
与第一主扫描位置相应的第一副扫描线,和
与第二主扫描位置相应的第二副扫描线。
10.按照权利要求9所述的方法,包括扫描表示要素的规律图案在副扫描方向上的起始位置的区域。
11.按照权利要求9所述的方法,其中
要素的规律图案的每个成员包括多种颜色中的至少一种,并且其中第一和第二要素都包括相同的颜色;和
该方法此外还包括分离扫描数据,以排除与至少第三要素相应的数据,至少第三要素具有与第一和第二要素的颜色不同的颜色。
12.按照权利要求9所述的方法,其中要素的规律图案包括滤色器要素的图案,并且该方法包括分离扫描数据,以排除与至少第四要素相应的数据,该至少第四要素对应于黑色矩阵的一部分。
13.按照权利要求9所述的方法,包括将第二副扫描线与第一副扫描线对齐,其中将与第一副扫描线中的第一和第二要素相对应的数据沿着副扫描方向与对应于第二副扫描线中的第一和第二要素的数据对齐。
14.按照权利要求13所述的方法,包括为第一和第二副扫描线中的每一个生成1D FFT,以产生相应的第一和第二副扫描线空间频谱。
15.按照权利要求14所述的方法,其中将第二副扫描线与第一副扫描线对齐包括沿着副扫描方向将第二副扫描线相对于第一副扫描线位移至少部分地基于所述频谱中峰值的相位角的量。
16.按照权利要求14所述的方法,包括将与第一和第二副扫描线中的至少一个相应的扫描数据乘以Hanning窗口函数。
17.按照权利要求14所述的方法,包括:
识别每个频谱内的主峰值;
确定主峰值中每一个的相位角,和
基于相应的相位角对齐副扫描线。
18.按照权利要求13所述的方法,包括:
对与第一副扫描线中的第一要素相应的数据和与第二副扫描线中的第一要素相应的数据进行求平均,以产生第一识别标志元素,和
对与第一副扫描线中的第二要素相应的数据和与第二副扫描线中的第二要素相应的数据进行求平均,以产生第二识别标志元素。
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