[发明专利]利用交替的奇偶抗扭斜信道同步数据信道的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200680023475.6 申请日: 2006-06-29
公开(公告)号: CN101390353A 公开(公告)日: 2009-03-18
发明(设计)人: T·F·林克;K-H·奥托 申请(专利权)人: 朗迅科技公司
主分类号: H04L25/14 分类号: H04L25/14
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 吴丽丽
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 利用 交替 奇偶 抗扭斜 信道 同步 数据 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于对准N个数据比特流的方法,其中N大于1,所述方法包括:

利用从所述N个数据比特流获得的采样数据位生成多个奇偶校验位,其中使用由 来自每个所述数据比特流的每隔N位获得的一个采样数据位组成的一组采样数据位来 生成每个奇偶校验位,其中,所述奇偶校验位在奇校验位和偶校验位之间交替;以及

生成抗扭斜比特流,该抗扭斜比特流包括所述采样数据位和使用所述采样数据位生 成的所述奇偶校验位;

使所述数据比特流和所述抗扭斜比特流向着一个用于充分对准所述数据比特流的 模块传播,所述模块被配置为使用所述抗扭斜比特流充分对准所述数据比特流。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述生成所述多个奇偶校验位的步骤包括, 对于每一对奇校验位和偶校验位:

对每个所述数据比特流进行采样以获得由来自每个所述数据比特流的一个采样数 据位组成的第一组采样数据位;

处理所述第一组采样数据位,以确定所述奇校验位;

对每个所述数据比特流进行采样以获得由来自每个所述数据比特流的一个采样数 据位组成的第二组采样数据位;

处理所述第二组采样数据位,以确定所述偶校验位。

3.根据权利要求2所述的方法,其中所述生成所述抗扭斜比特流的步骤包括:

将所述第一组采样数据位中的所述采样数据位插入到所述抗扭斜比特流中;

将从所述第一组采样数据位生成的所述奇校验位插入到所述抗扭斜比特流中;

将所述第二组采样数据位中的所述采样数据位插入到所述抗扭斜比特流中;以及

将从所述第二组采样数据位生成的所述偶校验位插入到所述抗扭斜比特流中。

4.根据权利要求3所述的方法,其中所述生成所述抗扭斜比特流进一步包括:

将所述奇校验位插入到所述抗扭斜比特流中紧跟在所述第一组采样数据位后的比 特位置上;以及

将所述偶校验位插入到所述抗扭斜比特流中紧跟在所述第二组采样数据位后的比 特位置上。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述对准所述数据比特流包括:

通过处理所述抗扭斜比特流来识别对准的抗扭斜帧;

通过对来自所述对准的抗扭斜帧的抗扭斜信道比较位与来自每个所述数据比特流 的数据信道比较位进行比较来标识与所述N个数据比特流的每一条相关的数据信道对 准位置;以及

选择与相应的数据比特流相关的所述数据信道对准位置来对准所述数据比特流。

6.根据权利要求5所述的方法,其中所述识别所述对准的抗扭斜帧的步骤包括:

处理来自所述抗扭斜比特流的第一组采样数据位,以确定奇校验值;

处理来自所述抗扭斜比特流的第二组采样数据位,以确定偶校验值;

比较所述奇校验值和来自所述抗扭斜比特流的相关奇校验位,并比较所述偶校验位 和来自所述抗扭斜比特流的相关偶校验位;以及

响应于所述奇校验值和所述奇校验位匹配以及所述偶校验值和所述偶校验位匹配 的确定结果,生成奇偶校验匹配指示符,所述奇偶校验匹配指示符用于识别所述对准的 抗扭斜帧。

7.一种用于对准N个数据比特流的设备,其中N大于1,包括:

用于利用从所述N个数据比特流获得的采样数据位生成多个奇偶校验位的装置, 其中使用由来自每个所述数据比特流的每隔N位获得的一个采样数据位组成的一组采 样数据位来生成每个奇偶校验位,其中,所述奇偶校验位在奇校验位和偶校验位之间交 替;以及

用于生成抗扭斜比特流的装置,所述抗扭斜比特流包括所述采样数据位和使用所述 采样数据位生成的所述奇偶校验位;

用于使所述数据比特流和所述抗扭斜比特流向着一个用于充分对准所述数据比特 流的模块传播的装置,所述模块被配置为使用所述抗扭斜比特流充分对准所述数据比特 流。

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