[发明专利]用于检控壁厚的方法和装置无效

专利信息
申请号: 200680028571.X 申请日: 2006-07-05
公开(公告)号: CN101238349A 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: A·奥特;S·皮亚纳;C·德特罗伊斯 申请(专利权)人: 克罗内斯股份公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;G01B15/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 俞海舟
地址: 德国新*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 检控 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于测定容器壁厚的方法,所述容器为例如由PET制成的瓶子,其中沿着测量射线的一第一检验路径和一第二检验路径测定射线吸收量,其中,各检验路径与所述容器分别在两个交点相交,其特征在于,所述两个检验路径(2,3)具有至少一个基本共同的交点(6)。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一检验路径(2)具有一个与所述共同的交点(6)的高度基本相同的第二交点(4)。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述第二检验路径(3)在从所述容器(1)的一侧壁区域(8)通往所述容器(1)的一底面区域(7)的过渡区域(9)中具有一交点(5)。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,使用测定的所述共同交点(6)中的壁厚来确定所述过渡区域(9)中的壁厚。

5.根据权利要求1至4中任一项权利要求所述的方法,所述两个检验路径(2,3)围成一大于15°、20°、30°、40°、45°、50°、60°、70°或80°的角。

6.根据权利要求1至5中任一项权利要求所述的方法,其特征在于,所述两个检验路径(2,3)围成一小于80°、70°、60°、50°、45°、40°、30°、20°或15°的角。

7.根据权利要求1至6中任一项权利要求所述的方法,其特征在于,所述射线为电磁射线,例如为红外线、可见光、UV射线、超高频射线、X射线、放射性射线或其他粒子射线。

8.根据权利要求1至7中任一项权利要求所述的方法,其特征在于,所述射线包括两种不同类型的射线,例如两种波长不同的电磁射线。

9.根据权利要求1至8中任一项权利要求所述的方法,其特征在于,使用测定的壁厚数值来调节和/或控制所述容器(1)的制造过程。

10.一种用于测定容器壁厚的方法,所述容器为例如由PET制成的瓶子,其特征在于,测定从所述容器(1)的一侧壁区域(8)通往所述容器(1)的一底面区域(7)的过渡区域(9)内的壁厚。

11.根据权利要求10的前序部分所述的方法,其特征在于,通过吸收方法使用5kev以下的低能量离子射线测量所述壁厚,所述离子射线由X射线管生成。

12.根据权利要求1至11中至少一项权利要求所述的方法,其特征在于,将测定的容器壁厚分配给参与制造过程的吹塑模具以及输送吹塑之前的容器坯件穿过一加热段的支承芯轴,以及可能情况下实施对制造参数如坯件的吹塑压力、延伸速度或温变特性的匹配。

13.一种用于测定容器壁厚的装置,所述容器为例如由PET制成的瓶子,其中设置两个检验路径,沿着所述两个检验路径可以测定测量射线的射线吸收量,其中各检验路径与所述容器分别在两个交点相交,其特征在于,所述两个检验路径(2,3)具有至少一基本共同的交点(6)。

14.一种用于测定容器壁厚的装置,所述容器为例如由PET制成的瓶子,其特征在于,将所述装置设计为用于测定从所述容器(1)的一侧壁区域(8)通往所述容器(1)的一底面区域(7)的过渡区域(9)内的壁厚。

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