[发明专利]扫描测试方法

权利要求书

1.一种测试集成电路的方法，其包括：

通过串行地将测试矢量位提供给以第一扫描时钟信号(42)计时的所述移位寄存器装置(20)来向移位寄存器装置提供测试矢量，并且在以第一时钟信号(42)计时的所述移位寄存器装置的相邻部分之间传递所述测试矢量位；

将所述测试矢量从所述移位寄存器装置提供至集成电路(10)的终端；

在启动信号(43)的控制下，将所述集成电路对所述测试矢量的输出响应作为并行输出响应位提供至所述移位寄存器装置(20)；

在以所述第一时钟信号(42)计时的所述移位寄存器装置的相邻部分之间传递所述输出响应位，并且串行地输出来自以所述第一时钟信号(42)计时的所述移位寄存器装置的输出响应；以及

分析所述输出响应来测试所述集成电路的功能，

其中所述集成电路对测试矢量的输出响应是在慢于所述第一时钟信号的第二时钟信号(56)的进一步控制下提供的。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述第一时钟信号(42)和所述第二时钟信号(56)包括具有时钟速率不同的至少第一部分(44)和第二部分(46)的单个信号，所述第一部分和所述第二部分定义了所述第一时钟信号和所述第二时钟信号。

3.如权利要求2所述的方法，其中所述方法进一步包括在所述第一时钟信号部分(44)的末端和所述第二时钟信号部分(46)的起始之间提供设置周期(60)，所述启动信号在所述设置周期期间具有过渡。

4.如权利要求3所述的方法，其中在所述设置周期(60)期间，从所述移位寄存器装置将测试矢量提供至所述集成电路的终端。

5.如权利要求3或4所述的方法，其中所述设置周期(60)的持续时间基本上对应于所述第二时钟信号部分(46)的一个时钟周期。

6.如权利要求2至5之一所述的方法，其中所述方法进一步包括在所述第二时钟信号部分(46)的末端和下一个第一时钟信号部分(48)的起始之间提供末端周期(64)，所述启动信号在所述末端周期期间具有过渡。

7.如权利要求6所述的方法，其中在所述末端周期(64)期间，所述测试矢量被从所述移位寄存器装置提供至所述集成电路的终端。

8.如权利要求6或7所述的方法，其中所述末端周期(64)的持续时间基本上对应于所述第二时钟信号部分(46)的一个时钟周期。

9.一种计算机程序，其包括计算机程序代码方法，当所述程序在计算机中运行时所述计算机程序代码方法执行权利要求1至8之一的步骤。

10.如权利要求9所述的计算机程序，其被包含在计算机可读介质中。

11.一种包括集成电路(10)和测试设备(72)的系统，所述集成电路包括：

组合逻辑(10)；和

集成测试电路，其用于启动对所述组合逻辑的测试；所述集成测试电路包括：用于串行地接收作为测试矢量位的测试矢量的移位寄存器装置(20)，和处于所述移位寄存器装置的输入端和输出端与所述组合逻辑的终端之间的连接；

其中所述系统进一步包括：

用于生成第一扫描时钟信号(42)的装置，所述第一扫描时钟信号用于对所述测试矢量位在所述移位寄存器装置的相邻部分之间的传递进行计时；

用于生成启动信号(43)的装置，所述启动信号用于控制由所述组合逻辑对移位寄存器装置提供输出响应作为并行输出响应位；

其中所述第一时钟信号(42)还用于对输出响应位在所述移位寄存器装置的相邻部分之间的传递以及输出响应从所述移位寄存器装置的输出进行计时；

并且其中所述系统进一步包括用于生成慢于所述第一时钟信号的第二时钟信号(56)的装置，所述第二时钟信号用于控制集成电路对所述移位寄存器提供输出响应。

12.如权利要求11所述的系统，进一步包括用于分析所述输出响应来测试集成电路功能的装置(72)。

13.如权利要求11或12所述的系统，其中用于生成第一时钟信号和第二时钟信号的装置包括用于生成具有不同时钟速率的第一部分(44)和第二部分(46)的单个信号的装置，所述第一部分和第二部分定义了第一时钟信号和第二时钟信号。