[发明专利]溅射靶、透明导电膜和触摸板用透明电极有效
申请号: | 200680035078.0 | 申请日: | 2006-09-25 |
公开(公告)号: | CN101273153A | 公开(公告)日: | 2008-09-24 |
发明(设计)人: | 矢野公规;井上一吉;田中信夫;岛根幸朗 | 申请(专利权)人: | 出光兴产株式会社 |
主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34;C04B35/453;H01B5/14;H01B13/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 溅射 透明 导电 触摸 电极 | ||
1、一种溅射靶,其特征在于,以铟、锡、锌为主成分,
由In/(In+Sn+Zn)表示的原子比为0.10~0.35,
由Sn/(In+Sn+Zn)表示的原子比为0.15~0.35,
由Zn/(In+Sn+Zn)表示的原子比为0.50~0.70,
并且,该溅射靶是含有由In2O3(ZnO)m表示的六方晶层状化合物及由Zn2SnO4表示的尖晶石结构化合物的氧化物的烧结体,其中,m为3~9的整数。
2、根据权利要求1所述的溅射靶,其特征在于,在X射线衍射中,所述六方晶层状化合物的最大峰强度I(In2O3(ZnO)m)、所述尖晶石结构化合物的最大峰强度I(Zn2SnO4)及由SnO2表示的金红石结构化合物的最大峰强度I(SnO2)满足下述关系:
(I(In2O3(ZnO)m))/(I(Zn2SnO4))<1
(I(SnO2))/(I(In2O3(ZnO)m))<1
(I(SnO2))/(I(Zn2SnO4))<1。
3、根据权利要求1或2所述的溅射靶,其特征在于,在所述X射线衍射中,所述尖晶石结构化合物的峰值在狭窄角移动。
4、根据权利要求1~3中任一项所述的溅射靶,其特征在于,体电阻为0.5~300mΩcm。
5、根据权利要求1~4中任一项所述的溅射靶,其特征在于,相对密度为90%以上。
6、一种透明导电膜,其特征在于,利用权利要求1~5中任一项所述的溅射靶,通过溅射法成膜而成。
7、一种触摸板用透明电极,其特征在于,使用权利要求6所述的透明导电膜。
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