[发明专利]溅射靶、低电阻率透明导电膜、该膜的制备方法及用于该方法的组合物无效

专利信息
申请号: 200680036302.8 申请日: 2006-09-25
公开(公告)号: CN101277910A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: P·库马;G·沃汀;R·R·吴 申请(专利权)人: H.C.施塔克公司;H.C.施塔克制陶业有限两合公司
主分类号: C04B35/01 分类号: C04B35/01;C04B35/457;C04B35/453;C04B35/117;C04B35/495;C23C14/08
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 沙永生
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 溅射 电阻率 透明 导电 制备 方法 用于 组合
【说明书】:

发明背景

氧化铟-氧化锡(In2O3-SnO2)(″ITO″)可用于形成具有高可见光透射性和高导电性的透明导电膜,可广泛应用于平板显示器(″FPD″)、触摸屏面板、太阳能电池、发光二极管(″LED″)、有机发光二极管(″OLED″)和建筑用热反射低发射率涂料。尽管这些ITO组合物已经获得了成功,但是人们仍然需要代替所有的或部分的氧化铟,以便降低总体成本。

美国专利第6,193,856号描述了一种溅射靶,其中靶材料包含化学式为MOx的金属氧化物,其中M是选自以下的至少一种金属:Ti,Nb,Ta,Mo,W,Zr和Hf,而金属氧化物MOx中的氧相对于化学计量组成来说是不足的。该文献说明,当M是Mo的时候,x为2<x<3。

美国专利第6,689,477号(及其母专利,美国专利第6,534,183号)描述了用于透明导电膜的溅射靶。该专利描述了一类组合物,该组合物包含选自以下的一种或多种金属氧化物:氧化铟、氧化锌和氧化锡;以及选自以下的一种或多种氧化物:氧化钒、氧化钼和氧化钌。该参考文献并未限定术语“氧化钼”的含义。已知钼可具有2,3,4,5和6价。通常当本领域称“氧化钼”的时候,表示“三氧化钼(MoO3)”。

为了在工业规模上用于FPD,所述膜的电阻率必须不大于10-3Ω·cm,透光率应当至少为80%。

发明描述

本发明涉及一种可用来制造透明导电膜的组合物,该组合物的煅烧产品,由所述煅烧产品制得的溅射靶,以及由所述组合物制备的透明导电膜。

更具体来说,本发明涉及一种主要由以下组分组成的组合物:

a)约0.1-60摩尔%的MoO2

b)约0-99.9摩尔%的In2O3

c)约0-99.9摩尔%的SnO2

d)约0-99.9摩尔%的ZnO,

e)约0-99.9摩尔%的Al2O3

f)约0-99.9摩尔%的Ga2O3

其中组分b)-f)之和约为40-99.9摩尔%,其中所述摩尔百分数是基于产品的总量为基准计,所述组分a)-e)之和为100。本发明还涉及该组合物的煅烧产品,由所述煅烧产品制得的溅射靶和由所述组合物制得的透明导电膜。

优选的范围为:

a)约1-40摩尔%的MoO2

b)约0-99摩尔%的In2O3

c)约0-99摩尔%的SnO2

d)约0-99摩尔%的ZnO,

e)约0-99摩尔%的Al2O3

f)约0-99摩尔%的Ga2O3

组分b)-f)之和约为60-99摩尔%。

更优选的范围为:

a)约1.5-30摩尔%的MoO2

b)约0-98.5摩尔%的In2O3

c)约0-98.5摩尔%的SnO2

d)约0-98.5摩尔%的ZnO,

e)约0-98.5摩尔%的Al2O3

f)约0-98.5摩尔%的Ga2O3

组分b)-f)之和约为70-98.5摩尔%。

最优选的组合物由以下组分组成:

a)约2-15摩尔%的MoO2

b)约0-85摩尔%的In2O3

c)约0-85摩尔%的SnO2

d)约0-85摩尔%的ZnO,

e)约0-85摩尔%的Al2O3

f)约0-85摩尔%的Ga2O3

组分b)-f)之和约为85-98摩尔%。

三种特别优选的组合物(I,II和III)主要由以下组分组成:

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