[发明专利]用于共同光数据存储介质凹陷深度的介质、系统和方法有效

专利信息
申请号: 200680038070.X 申请日: 2006-10-11
公开(公告)号: CN101288120A 公开(公告)日: 2008-10-15
发明(设计)人: 尼尔斯·豪斯坦;克雷格·A·克莱因;丹尼尔·J·威纳斯基 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G11B7/013 分类号: G11B7/013;G11B7/24
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 周少杰
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 共同 数据 存储 介质 凹陷 深度 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种光数据存储介质,该介质包括:

基板,被配置为用第一折射率透射辐射光束,并且其中辐射光束具有指定波长;

第一数据盘面,被配置为存储数字数据,该第一数据盘面透射辐射光束并且具有平台部分,该平台部分上布置有指定凹坑深度的凹坑,其中该凹坑深度是平台部分的平面和凹坑的基底之间的垂直距离;

第二数据盘面,被配置为存储数字数据,该第二数据盘面具有平台部分,该平台部分上布置有凹坑深度的凹坑;以及

间隔层,被置配为维持第一和第二数据盘面之间的间隔距离,并且用第二折射率透射辐射光束,使得辐射光束穿过基板并且聚焦在第一或第二数据盘面上,其中凹坑深度基本等于辐射光束波长除以第一和第二折射率的平均数的四倍。

2.如权利要求1所述的光数据存储介质,其中第一和第二折射率的平均数是算术平均。

3.如权利要求1所述的光数据存储介质,其中第一和第二折射率的平均数是调和平均。

4.如权利要求1所述的光数据存储介质,其中第一和第二折射率的平均数是几何平均。

5.如权利要求1所述的光数据存储介质,其中辐射光束由激光二极管生成。

6.如权利要求1所述的光数据存储介质,其中辐射光束波长在三百八十五纳米(385nm)到四百二十五纳米(425nm)的范围内。

7.如权利要求1所述的光数据存储介质,其中辐射光束波长在六百三十纳米(630nm)到六百七十纳米(670nm)的范围内。

8.如权利要求1所述的光数据存储介质,还包括基底层。

9.如权利要求1所述的光数据存储介质,其中第一和第二数据盘面的每个包括多个凹槽,其中平台部分布置在多个凹槽的两个之间。

10.如权利要求1所述的光数据存储介质,其中第一和第二数据盘面还包括反向凹槽,并且平台部分布置在凹槽上。

11.如权利要求1所述的光数据存储介质,还包括用于接收平台部分的装置。

12.一种用于光学地存储数据的系统,该系统包括:

光数据存储介质,包括:

基板,被配置为以第一折射率透射辐射光束,并且其中辐射光束具有指定波长;

第一数据盘面,被配置为存储数字数据,该第一数据盘面透射辐射光束并且具有平台部分,该平台部分上布置了指定凹坑深度的凹坑,其中凹坑深度是平台部分的平面和凹坑的基底之间的垂直距离;

第二数据盘面,被配置为存储数字数据,该第二数据盘面具有平台部分,该平台部分上布置了凹坑深度的凹坑;

间隔层,被配置为维持第一和第二数据盘面之间的间隔距离,并且以第二折射率透射辐射光束,使得辐射光束穿过基板并且聚焦在第一或第二数据盘面上,其中凹坑深度基本等于辐射光束波长除以第一和第二折射率的平均数的四倍;

轴马达,被配置为旋转光数据存储介质;

光头,被配置为将辐射光束引导到第一或第二数据盘面,并且引导来自数据盘面的反射光束;

支臂,被配置为定位光头;

光模块,被配置为生成辐射光束并且从反射光束检测凹坑;以及

控制模块,被配置为控制光模块和轴马达,并且将检测的凹坑转换为数字数据。

13.如权利要求12所述的系统,其中第一和第二折射率的平均数是算术平均。

14.如权利要求12所述的系统,其中第一和第二折射率的平均数是调和平均。

15.如权利要求12所述的系统,其中第一和第二折射率的平均数是几何平均。

16.如权利要求12所述的系统,其中辐射光束波长在三百八十五纳米(385nm)到四百二十五纳米(425nm)的范围内。

17.一种支持用于计算包括支持应用的光数据存储介质的共同凹陷深度的应用的方法,其中该应用可被操作来执行下述功能:

识别辐射光束的波长;

识别被配置为透射辐射光束的多个间隔层的第一折射率;

计算平均折射率;以及

按基本等于辐射光束波长除以平均折射率的四倍计算多个凹陷的凹陷深度,该凹陷布置在数据盘面上。

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