[发明专利]用于给基片进行表面处理的装置和方法有效
申请号: | 200680047144.6 | 申请日: | 2006-12-15 |
公开(公告)号: | CN101331584A | 公开(公告)日: | 2008-12-24 |
发明(设计)人: | H·卡普勒 | 申请(专利权)人: | 吉布尔·施密德有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;B05C1/08 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曹若 |
地址: | 德国弗罗*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 进行 表面 处理 装置 方法 | ||
1.用于给基片(2)进行表面处理的装置(1),所述装置具有至少一个用于运输基片(2)的运输机构(3)和至少一个用于以液态的处理介质(10)在由运输机构(3)确定的运输平面(5)中湿润基片表面(4)的输送机构(3a),其特征在于,构造所述输送机构(3a)用于将处理介质(10)施加到布置在运输平面(5)内的面朝下的基片表面(4)上,并且设置至少一个用于从输送机构(3a)周围抽吸气态和/或雾状分布的处理介质(10)的抽吸机构(11),其中沿垂直方向在运输平面(5)下方布置所述至少一个抽吸机构(11)。
2.按权利要求1所述的装置,其特征在于,将所述至少一个抽吸机构(11)布置在一个中间空间中,该中间空间由至少两个相邻布置的运输机构(3)和运输平面(5)限界。
3.按权利要求1或2所述的装置,其特征在于,将所述抽吸机构(11)构造成纵向延伸的空心体,并且该抽吸机构具有至少一个抽吸口(12)。
4.按权利要求1所述的装置,其特征在于,所述抽吸机构(11)布置在以处理介质(10)填充的处理池(9)的区域内。
5.按权利要求4所述的装置,其特征在于,将所述抽吸机构(11)布置在处理池(9)中,使得该抽吸机构在没有构造抽吸口(12)的下侧上可以至少部分地由处理介质(10)进行湿润。
6.按权利要求5所述的装置,其特征在于,为所述处理池(9)配设了至少部分布置在处理池边缘(22)上的抽吸井(15)用于在边缘侧抽吸气态和/或雾状分布的处理介质(10)。
7.按权利要求5所述的装置,其特征在于,所述抽吸机构(11)的至少一个抽吸口(12)布置在抽吸机构(11)的纵向中轴线(21)上方的区域内。
8.按权利要求1所述的装置,其特征在于,将所述抽吸机构(11)与抽吸管道(18)连接,其中在抽吸机构(11)和抽吸管道(18)之间设置至少一个调节阀(19)。
9.按权利要求2所述的装置,其特征在于,将所述抽吸机构(11)布置在两个构造成运输辊子的运输机构(3)之间,其中抽吸机构(11)的纵向中轴线(21)平行于运输机构(3)的旋转轴线(20)布置。
10.用于以处理介质(10)湿润基片(2)的基片表面(4)的方法,该方法具有以下步骤:
-用运输机构(3)在运输平面(5)内运输基片(2),
-用处理介质(10)湿润布置在运输平面(5)内的指向下的基片表面(4),以输送机构(3a)将该处理介质施加在基片表面(4)上,
-用沿垂直方向布置在运输平面(5)下方的抽吸机构(11)抽吸气态的或雾化的处理介质(10),从而阻止处理介质(10)沉积在不布置在运输平面(5)内的基片表面(4)上。
11.按权利要求10所述的方法,其特征在于,连续地运输基片(2)或通过输送机构连续地供给处理介质(10)来湿润基片表面(4)或连续地抽吸气态的或雾化的处理介质(10)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于吉布尔·施密德有限责任公司,未经吉布尔·施密德有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200680047144.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造