[发明专利]用于测试快闪存储器的方法、系统和计算机可读代码

权利要求书

1.一种器件制造的方法，所述方法包括：

制作多个快闪存储器器件，所述多个快闪存储器器件的每个快闪 存储器器件包括：

处在各个快闪存储器管芯上的各个快闪存储器，以及

处在与所述各个快闪存储器管芯分开的各个快闪控制器管芯 上的各个快闪控制器，所述多个快闪存储器器件的每个被包裹在各自 的公共的外壳中，以及

测试所述多个制作的快闪存储器器件，其中每个快闪控制器执行 用于测试各个快闪存储器管芯的各个测试程序，其中，所述测试包括 在第一测试阶段期间在单比特单元(SBC)模式中测试制作的快闪存 储器器件的单元，且在第二测试阶段期间在多比特单元(MBC)模式 中测试制作的快闪存储器器件的单元。

2.权利要求1的方法，其中所述多个快闪存储器器件的所述测试 是基本上同时进行的。

3.权利要求2的方法，还包括：把所述多个快闪存储器器件的每 个耦合到单个测试板，和经由所述单个测试板把电功率传递到所述多 个快闪存储器器件的每个。

4.权利要求1的方法，其中所述多个快闪存储器器件的每个快闪 存储器器件被制作为各个多芯片封装。

5.权利要求1的方法，其中所述多个快闪存储器器件的每个快闪 存储器器件被制作为各个存储器卡。

6.权利要求1的方法，其中每个快闪存储器器件具有对应的多芯 片封装，且对应的多芯片封装包含各个快闪存储器控制器和对应的快 闪存储器。

7.权利要求1-6中的任一的方法，其中所述每个快闪存储器器件 的每个快闪存储器包括一个或多个快闪存储器管芯，其中，各个快闪 控制器被配置用于通过执行所述各个测试程序而测试所述一个或多个 快闪存储器管芯。

8.权利要求1的方法，其中对于所述多个快闪存储器器件的每个 快闪存储器器件，各个快闪控制器和各个快闪存储器管芯处在各个公 共的印刷电路板上。

9.权利要求1-6中的任一的方法，其中对于所述多个快闪存储器 器件的每个快闪存储器器件，所述各个测试程序至少部分地处在各个 快闪控制器的各个非易失性存储器内。

10.权利要求1-6中的任一的方法，其中对于所述多个快闪存储 器器件的每个快闪存储器器件，所述各个测试程序处在各个快闪存储 器内。

11.根据权利要求9所述的方法，其中，所述各个快闪控制器的 各个非易失性存储器包括只读存储器。

12.权利要求1-6中的任一的方法，其中由每个各个快闪控制器 执行的所述各个测试程序识别在所述各个快闪存储器中的坏块。

13.权利要求1-6中的任一的方法，其中由每个快闪控制器执行 的所述各个测试程序实施各个快闪存储器的至少75％的存储器单元的 坏块测试。

14.权利要求1-6中的任一的方法，其中每个快闪控制器可操作 来针对各个快闪存储器的所有存储器单元的至少90％进行坏块测试。

15.权利要求1-6中的任一的方法，其中所述各个测试程序的执 行包括：

确定在各个快闪存储器的快闪存储器操作期间纠错是否成功；以 及

响应于与各个快闪存储器相关的纠错失败的指示而记录测试失 败。

16.根据权利要求1所述的方法，还包括：在测试了第一快闪存 储器之后，将在所述第一快闪存储器中的标记设置为指示完成了所述 第一快闪存储器的测试。