[发明专利]可编程逻辑控制器的外围装置以及程序的自动验证方法有效
申请号: | 200680054988.3 | 申请日: | 2006-06-13 |
公开(公告)号: | CN101467111A | 公开(公告)日: | 2009-06-24 |
发明(设计)人: | 坂上香织;角谷政信;佐藤友弘;野野村真人 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G05B19/05 | 分类号: | G05B19/05;G05B23/02 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可编程 逻辑 控制器 外围 装置 以及 程序 自动 验证 方法 | ||
1.一种PLC的外围装置,其与基于顺序程序对外部机器进行控制的PLC连接,对所述PLC中的所述顺序程序的动作状态进行验证,所述PLC是指可编程逻辑控制器,
其特征在于,所述PLC的外围装置具有:
跟踪结果优化处理单元,其生成基于所述外部机器的性能对跟踪结果进行校正后的优化后跟踪结果,该跟踪结果是所述PLC通过执行与所述外部机器中的规定的信号输入输出部对应的顺序处理而得到的;
跟踪结果对照处理单元,其将所述优化后跟踪结果与作为所述外部机器的顺序处理的基础的时序图进行对照,检测所述优化后跟踪结果的偏差;以及
跟踪结果存储单元,其积累并存储跟踪结果,该跟踪结果是所述PLC通过以规定的时间间隔执行与所述外部机器中的规定的信号输入输出部对应的顺序处理而得到的,
所述PLC的外围装置具有以下功能:
每次将所述跟踪结果存储到所述跟踪结果存储单元中时,
所述跟踪结果优化处理单元生成优化后跟踪结果,
所述跟踪结果对照处理单元将所述优化后跟踪结果与所述时序图进行对照,对随时间推移而产生的定时偏差进行检测。
2.根据权利要求1所述的PLC的外围装置,其特征在于,还具有:
修正对象顺序程序检测处理单元,其在由所述跟踪结果对照处理单元根据得到的对照结果而检测出所述时序图和所述优化后跟踪结果之间的随时间推移而产生的定时偏差后,获取作为该定时偏差的原因的设备,获取与该设备相关的所述顺序程序中的程序步;以及
显示处理单元,其将所述顺序程序中的作为产生所述定时偏差的原因的所述设备,在与该PLC的外围装置连接的显示单元中进行强调显示。
3.一种PLC的外围装置,其与基于顺序程序对外部机器进行控制的PLC连接,对所述PLC中的所述顺序程序的动作状态进行验证,所述PLC是指可编程逻辑控制器,
其特征在于,所述PLC的外围装置具有:
跟踪结果优化处理单元,其生成基于所述外部机器的性能对跟踪结果进行校正后的优化后跟踪结果,该跟踪结果是所述PLC通过执行与所述外部机器中的规定的信号输入输出部对应的顺序处理而得到的;
跟踪结果对照处理单元,其将所述优化后跟踪结果与作为所述外部机器的顺序处理的基础的时序图进行对照,检测所述优化后跟踪结果的偏差;
修正对象定时检测处理单元,其在由所述跟踪结果对照处理单元根据得到的对照结果检测出所述时序图和所述优化后跟踪结果之间的定时偏差后,判别与该定时偏差对应的所述顺序程序中的程序步之前是否存在使用计时器的处理,仅在所述程序步之前存在使用计时器的处理的情况下,针对所述顺序程序上的所述计时处理的计时器设定值,计算可以消除所述定时偏差的量的新计时器设定值;以及
定时修正处理单元,其将由所述修正对象定时检测处理单元生成的所述新计时器设定值,设定为所述顺序程序上的所述计时处理的计时器设定值。
4.一种PLC的外围装置,其与基于顺序程序对外部机器进行控制的PLC连接,对所述PLC中的所述顺序程序的动作状态进行验证,所述PLC是指可编程逻辑控制器,
其特征在于,所述PLC的外围装置具有:
跟踪结果优化处理单元,其生成基于所述外部机器的性能对跟踪结果进行校正后的优化后跟踪结果,该跟踪结果是所述PLC通过执行与所述外部机器中的规定的信号输入输出部对应的顺序处理而得到的;
跟踪结果对照处理单元,其将所述优化后跟踪结果与作为所述外部机器的顺序处理的基础的时序图进行对照,检测所述优化后跟踪结果的偏差;以及
修正对象顺序程序检测处理单元,其在由所述跟踪结果对照处理单元根据得到的对照结果而检测出所述时序图和所述优化后跟踪结果之间的定时偏差后,提取与所述定时偏差对应的所述顺序程序中的程序步,获取以在该程序步中用作接点的设备作为线圈的程序步,作为成为产生所述定时偏差的原因的程序步。
5.根据权利要求4所述的PLC的外围装置,其特征在于,还具有:
显示处理单元,其将所述顺序程序中的作为产生所述定时偏差的原因的程序步,在与该PLC的外围装置连接的显示单元中进行强调显示。
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