[发明专利]一种电子组件测试分类装置

权利要求书

1. 一种电子组件测试分类装置，其特征在于：其包含：

供料匣，其承置有待测的电子组件；

收料匣，其接收承置测试完的电子组件；

空匣，其接收与提供空的料盘；

测试区，其装设具有测试座的测试板，并在测试座的上方对应设有升降的下压测试头；

转运机构，其设置对应在各测试区的测试座位置，其具有载台，所述的载台滑移在机台的换料处与测试座间，以运送待测与测试完的电子组件；

输送机构，其是具有取放器，并移动在供料匣、收料匣与转运机构间的区域，以输送待测与测试完的电子组件，另设有一取放器，用以移载空的料盘。

2. 根据权利要求1项所述的电子组件测试分类装置，其特征在于：所述的供料匣设有堆栈区与暂置区，在堆栈区升降与水平载送输出承置有待测电子组件的料盘至暂置区以供取料；而收料匣是细分有不同等级的收料匣，以储放测试完的不同等级电子组件，各收料匣是设有堆栈区与暂置区，在暂置区水平载送输入承置有测试完电子组件的料盘至堆栈区，以供堆栈收置测试完电子组件的料盘，又所述的空匣是设有堆栈区与暂置区，而在暂置区接收并水平载送输入空的料盘至堆栈区，以及在堆栈区提供并水平载送输出空的料盘至暂置区。

3. 根据权利要求1项所述的电子组件测试分类装置，其特征在于：所述的测试区的下压测试头为将待测电子组件取置在测试座中，并下压以执行测试作业的取放器，而转运机构是具有至少一供料载台与收料载台，并在侧方设置有预热匣，以在需要时对待测的电子组件进行预热的作业。

4. 根据权利要求1项所述的电子组件测试分类装置，其特征在于：所述的测试区是平行排列设置在机台前端位置与分置在机台两侧位置，而分置在机台两侧的测试区是与平行排列设置的测试区呈反向设置。

5. 一种电子组件测试分类装置，其特征在于：其包含：

供料匣，其设有堆栈区与暂置区，堆栈区是升降位移盛装有待测电子组件的料盘，暂置区则供取料；

收料匣，其是设有暂置区与堆栈区，暂置区是接收承置测试完的电子组件，堆栈区则升降位移盛装有测试完电子组件的料盘；

空匣，其是设有暂置区与堆栈区，暂置区是接收承置空的料盘，堆栈区则升降位移提供空的料盘；

测试区，其是装设具测试座的测试板，并在测试座的上方对应设有升降的下压测试头；

转运机构，其设置对应在各测试区的测试座位置，是具有载台，所述的载台滑移在机台的换料处与测试座间，以运送待测与测试完的电子组件；

输送机构，其是具有取放器，并移动在供料匣、收料匣与转运机构间的区域，以输送待测与测试完的电子组件，另设有一取放器，用以移载空的料盘。

6. 根据权利要求5项所述的电子组件测试分类装置，其特征在于：所述的供料匣是在堆栈区升降并水平载送输出承置有待测电子组件的料盘至暂置区以供取料；而收料匣是细分有不同等级的收料匣，以储放测试完的不同等级电子组件，各收料匣是在暂置区水平载送输入承置有测试完电子组件的料盘至堆栈区，以供堆栈收置测试完电子组件的料盘，又所述的空匣是在暂置区水平载送输入空的料盘至堆栈区。

7. 根据权利要求5项所述的电子组件测试分类装置，其特征在于：所述的空匣在暂置区水平载送输入的空的料盘。

8. 根据权利要求5项所述的电子组件测试分类装置，其特征在于：所述的测试区的下压测试头为将待测电子组件取置在测试座中，并下压以执行测试作业的取放器，而所述的转运机构是具有至少一供料载台与收料载台，并在侧方对应设置有预热匣，以在需要时对待测的电子组件进行预热的作业。

9. 根据权利要求5项所述的电子组件测试分类装置，其特征在于：所述的测试区是平行排列设置在机台前端位置与分置在机台两侧位置，而所述的分置在机台两侧的测试区是与平行排列设置的测试区呈反向设置。