[发明专利]一种电子组件测试分类装置

说明书

技术领域

本发明涉及的是一种分类装置，特别涉及的是一种可利用各机构的时序搭配作动，而有效缩短整体测试作业时间，以提升测试产能的电子组件测试分类装置。

背景技术

请参阅图1、图2，其为中国台湾省专利申请第91105851号『IC测试处理机』专利案，所述的测试处理机是在机台10前端分别装设有供料匣/升降器11、空匣/升降器12与输出匣13，供料匣/升降器11是装填有待测IC，空匣/升降器12则接收由供料匣/升降器11使用完的空的料盘，输出匣13是可细分不同等级的输出匣13a、13b、13c，以储放测试完的不同等级IC，数个测试埠14是设在机台10的后端，各测试埠14内平行排列设置具有测试座15的测试板16，以及在测试板16前端各设有一组待测IC旋转缓冲台17与测试完IC旋转缓冲台18，另一IC输送机构19是移载在供料匣/升降器11、各测试埠14与输出匣13a、13b、13c间，以负责各机构间的IC输送工作，以及可增设有预热匣20，以对待测的IC在测试前进行预热的作业；进行IC测试作业时，若测试板16的测试座15的IC放置方向与供料匣/升降器11内IC放置方向相同时，则是直接先以IC输送机构19将供料匣/升降器11上的待测IC取出，并分别输送放置在各测试座15内，在完成测试后，再由IC输送机构19分别将测试座15内测试完的IC取出，并依据测试结果将测试完的IC输送至各输出匣13a、13b、13c置放；若测试板16的测试座15的IC放置方向与供料匣/升降器11内IC放置方向不同时，则是先以IC输送机构19将供料匣/升降器11上的待测IC取出，并分别输送放置在待测IC旋转缓冲台17上，转动待测IC旋转缓冲台17的方向，使IC角位相同在各测试座15后，再以IC输送机构19将IC放入各测试座15内，在完成测试后，再由IC输送机构19分别将测试座15内测试完的IC取出，并放置在测试完IC旋转缓冲台18上，使IC角位相同在输出匣13a、13b、13c，接着再由IC输送机构19依据测试结果将测试完的IC输送至各输出匣13a、13b、13c置放；惟，所述的测试处理机的设计架构具有如下的缺弊：

所述的测试处理机不论其测试座15的IC放置方向与供料匣/升降器11内IC放置方向是否相同，其均有赖单一IC输送机构19将供料匣/升降器11上的待测IC分别输送放置在各测试座15，而测试完的IC也有赖所述的IC输送机构19输送至各输出匣13a、13b、13c置放，也即所述的IC输送机构19必须以一对多的型态与较远的运动行程移载在各测试座15与供料匣/升降器11与输出匣13a、13b、13c间，其将导致IC输送机构19工作负荷过多，而无法依据时序安排顺畅的进行IC的输送作业，此即产生部份测试埠待机的情形，而降低测试作业的生产效率。

所述的供料匣/升降器11使用完毕的空的料盘，是由IC输送机构19移载至空匣/升降器12处收置，由于空匣/升降器12仅可升降作动，并无法自动输出空的料盘，当输出匣13a、13b、13c上的料盘已盛满测试完的IC后，使用者即必须以人工方式将空匣/升降器12内的空料盘取出，再补充在输出匣13a、13b、13c上以供接续盛置测试完的IC，故输出匣的空料盘补充作业上相当不便。

有鉴于此，本发明人遂以其多年从事相关行业的研发与制作经验，针对目前所面临的问题深入研究，经过长期努力的研究与试作，终究研创出一种可利用各机构的时序搭配作动，而有效缩短测试作业的整体制程时间，以提升测试产能的电子组件测试分类装置，此即为本发明的设计宗旨。

发明内容

本发明的目之一是提供一种电子组件测试分类装置，达到效缩短整体测试作业时间，达到提升测试产能，提升移载电子组件作业速度，可自动化完成收料匣的空料盘补充作业，达到有效提升作业便利性的目的。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案一在于，提出了一种电子组件测试分类装置，其包含：供料匣，其承置有待测的电子组件；收料匣，其接收承置测试完的电子组件；空匣，其接收与提供空的料盘；测试区，其装设具有测试座的测试板，并在测试座的上方对应设有升降的下压测试头；转运机构，其设置对应在各测试区的测试座位置，其具有载台，所述的载台滑移在机台的换料处与测试座间，以运送待测与测试完的电子组件；输送机构，其是具有取放器，并移动在供料匣、收料匣与转运机构间的区域，以输送待测与测试完的电子组件，另设有一取放器，用以移载空的料盘；