[发明专利]芯片封装模块的散热方法及构造无效

专利信息
申请号: 200710007982.7 申请日: 2007-02-01
公开(公告)号: CN101236938A 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 刘建宏 申请(专利权)人: 精材科技股份有限公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 陈晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 芯片 封装 模块 散热 方法 构造
【权利要求书】:

1. 一种芯片封装模块的散热方法,在芯片封装模块的壳体基部设有贯穿至内部硅晶体的热沟道,并且在各热沟道中设置散热导体以衔接在硅晶体与壳体表面之间。

2. 如权利要求1所述的芯片封装模块的散热方法,该散热导体利用金属材料以金属沉积方式,使金属材料沉积后形成衔接在硅晶体与壳体表面之间的散热导体。

3. 如权利要求1所述的芯片封装模块的散热方法,该硅晶体的底面与壳体之间设有容置空间,使沉积的金属能够扩散到硅晶体的底面,并且使各散热导体在硅晶体的底面构成连接。

4. 一种芯片封装模块的散热构造,其芯片封装模块的晶片构造在一个设于壳体内部的硅晶体上,其特征在于:

该壳体基部设有若干衔接在硅晶体与壳体表面之间的散热导体。

5. 如权利要求4所述的芯片封装模块的散热构造,其中各所述散热导体直接触及硅晶体底面。

6. 如权利要求4所述的芯片封装模块的散热构造,其中各所述散热导体深入硅晶体内部。

7. 如权利要求4所述的芯片封装模块的散热构造,其中各所述散热导体贯穿至硅晶体的表层。

8. 如权利要求4所述的芯片封装模块的散热构造,其中各所述散热导体在硅晶体的底面构成连接。

9. 如权利要求4所述的芯片封装模块的散热构造,其中该壳体基部由依序构造在硅晶体的下方的绝缘层、金属导电层以及阻焊层所构成。

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