[发明专利]锑化铟霍尔元件及制造方法无效
申请号: | 200710021094.0 | 申请日: | 2007-03-26 |
公开(公告)号: | CN101257082A | 公开(公告)日: | 2008-09-03 |
发明(设计)人: | 西垣诚 | 申请(专利权)人: | 昆山尼赛拉电子器材有限公司 |
主分类号: | H01L43/06 | 分类号: | H01L43/06;H01L43/04;H01L43/14;G01R33/07 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所 | 代理人: | 盛建德 |
地址: | 215325江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 锑化铟 霍尔 元件 制造 方法 | ||
1. 一种锑化铟霍尔元件,主要由镍锌材料基板、二氧化硅绝缘层、“十”字形锑化铟感知膜和金电极组成,其特征是:“十”字形锑化铟感知膜上覆盖有“十”字形液体树脂保护膜,“十”字形液体树脂保护膜图形尺寸稍小于“十”字形锑化铟感知膜图形尺寸。
2. 根据权利要求1所述的锑化铟霍尔元件,其特征是:“十”字形液体树脂保护膜的“十”字宽度大于“十”字形锑化铟感知膜的“十”字宽度。
3. 一种锑化铟霍尔元件的制造方法,其特征是:主要步骤如下:1)镍锌材料基板受入;2)形成二氧化硅绝缘层;3)蒸着锑化铟感知膜;4)在锑化铟感知膜表面涂布光刻胶,光刻胶烘干后进行“十”字形锑化铟感知膜光刻,光刻时“十”字以外的光刻胶部分用紫外线进行照射,接着放入显像液中显像、清除“十”以外的光刻胶,再放入第一酸性腐蚀液中清除“十”以外的锑化铟,而后再放入第二酸性腐蚀液进行第二次腐蚀,第二次腐蚀以后在丙酮中进行“十”字表面光刻胶清除,就形成“十”字形锑化铟感知膜;5)在形成“十”字形锑化铟感知膜的基板表面涂布一层液体树脂保护膜烘干,烘干后再涂布光刻胶烘干,烘干后在“十”字形锑化铟感知膜上面进行“十”字形液体树脂保护膜光刻,光刻时“十”字以外的光刻胶部分用紫外线进行照射,接着放入显像液中显像、清除“十”以外的光刻胶和液体树脂保护膜,然后再在醋酸丁当中清洗掉“十”上的剩余光刻胶,形成“十”字形液体树脂保护膜;6)在形成“十”字形锑化铟感知膜和“十”字形液体树脂保护膜的基板表面涂布一层光刻胶进行烘干,与“十”字形锑化铟感知膜和“十”字形液体树脂保护膜光刻口平行接触处进行四个金电极图形光刻,在每个金电极图形以内的部分用紫外线进行照射,接着放入显像液中显像、清除金电极图形以内的光刻胶,形成四个金电极图形;7)金电极图形形成以后进行电极蒸着,在芯片表面依次蒸着一层Cr和Au,蒸着完成后金电极图形以外部分的金主要用胶带、丙酮去除,即形成四个金电极;7)最后芯片进行划片、切割,在四个金电极上使用金丝球焊连接、进行超小型封装,再进行电镀处理以后就形成了锑化铟高灵敏度型霍尔器件。
4. 根据权利要求3所述的锑化铟霍尔元件的制造方法,其特征是:第一酸性腐蚀液由乳酸和硝酸组成,乳酸和硝酸的体积比例为5∶1,腐蚀液温度为27℃~29℃、腐蚀时间为230秒~250秒;第二腐蚀液是盐酸,腐蚀时间280~320秒。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山尼赛拉电子器材有限公司,未经昆山尼赛拉电子器材有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710021094.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:高散热的发光二极管制作方法及其结构
- 下一篇:直线铸型机用合金自动浇注装置