[发明专利]防电磁辐射眼镜屏蔽效能的测试方法及实现该方法的装置无效

专利信息
申请号: 200710047646.5 申请日: 2007-10-30
公开(公告)号: CN101424719A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 黎国栋;许涛芳 申请(专利权)人: 上海翰纳森制衣有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R29/10;G01M11/00
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 代理人: 朱妙春
地址: 200070上海市闸*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 电磁辐射 眼镜 屏蔽 效能 测试 方法 实现 装置
【权利要求书】:

1、防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)测出所述防电磁辐射眼镜的防电磁辐射涂层的表面电阻RS,得出所述防电磁辐射涂层的表面电阻率ρs

2)将步骤1)中所得到的表面电阻率,代入以下公式得到屏蔽效能SE

SE=20lg(1+Zo2ρs)]]>

式中Zo为空间波阻抗,其值为377Ω。

2、根据权利要求1所述的防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试方法,其特征在于,通过以下步骤得出所述防电磁辐射眼镜的防电磁辐射涂层的表面电阻率ρs

1)准备一底面为圆环形的外电极,底面的圆环形内径为r1;一底面为圆形的内电极,底面的圆形的直径为r2;r2<r1

2)将所述外电极和所述内电极压在所述防电磁辐射眼镜的防电磁辐射涂层表面上,并使所述外电极与所述内电极同心;利用直流电桥或直流数字电压表测出所述外电极与所述内电极之间的防电磁辐射涂层的表面电阻RS

3)将步骤2)中测出的表面电阻RS代入下式求得所述防电磁辐射涂层的表面电阻率ρs

ρs=2πRslnr2r1.]]>

3、一种实现权利要求2所述的方法的防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试装置,其特征在于,包括:

一底面为圆环形的外电极;

一直径比所述外电极的底面的圆环内径小的底面为圆形的内电极;所述外电极与所述内电极同心;

一直流电桥或直流数字电压表。

4、根据权利要求3所述的防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试装置,其特征在于:所述外电极呈圆环柱型,所述内电极呈圆柱型。

5、根据权利要求4所述的防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试装置,其特征在于:还包括一绝缘材料制作的介质环,所述内电极装配在所述介质环的环内,所述介质环装配在所述外电极的环内。

6、根据权利要求5所述的防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试装置,其特征在于:还包括一绝缘材料制作的压条,所述压条上开有三个成一条直线的安装孔,所述外电极上开有两个相应的安装孔,所述内电极上开有一个相应的安装孔,通过螺钉穿过上述安装孔将压条与所述外电极、内电极装配。

7、根据权利要求5所述的防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试装置,其特征在于:制作所述介质环的材料是聚四氟乙烯。

8、根据权利要求5所述的防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试装置,其特征在于:制作所述压条的材料是酚醛塑料。

9、根据权利要求5所述的防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试装置,其特征在于:所述外电极包括黄铜层和导电橡胶层,所述内电极也是如此。

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