[发明专利]一种负载过流无损检测及充电过压保护的方法无效
申请号: | 200710069239.4 | 申请日: | 2007-06-07 |
公开(公告)号: | CN101067633A | 公开(公告)日: | 2007-11-07 |
发明(设计)人: | 鲍旭东 | 申请(专利权)人: | 建德市正达电器有限公司 |
主分类号: | G01R19/165 | 分类号: | G01R19/165;H02J7/00 |
代理公司: | 杭州九洲专利事务所有限公司 | 代理人: | 陈继亮 |
地址: | 311604浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 负载 无损 检测 充电 保护 方法 | ||
1、一种负载过流无损检测及充电过压保护的方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:
1.1)、晶体管T1得到驱动脉冲时,晶体管T1导通,脉动直流电V+给线圈L1储能,线圈L4、二级管D06、电容C06工作在开关电源正激变换状态,电容C06电压与供电电压成正比例关系,即可以得到30V的电压;当驱动脉冲停止时,线圈L1的能量通过线圈L2、二级管D01给蓄电池充电;当电容C06电压下降到一定值后,光耦G1中的LED电流减小,控制模块M1的6脚降到低电平,致晶体管T1导通,正激变换又开始工作,瞬间后电容C6的电压又充到30V,以此循环;
1.2)、充电输出是在反激变换状态,负载特性比较软,当负载加大时,输出电压会明显下降,正常充电时,输出电压在40V-60V之间;当因过流或短路输出电压下降到30V以下时,电容C06上的电能经二极管D07、电阻R012、光耦G1、晶体管T04、电阻R08使晶体管T04导通,正常充电时晶体管T04工作处在反偏状态,晶体管T04的基极电压高于其发射极电压;当光耦G1的LED达到一定电流后光耦中的三极管部分也导通,给控制模块M1的6脚致高电平,致晶体管T1零电平就关断了开关电源;
1.3)、当蓄电池电压低于59V左右时,稳压二级管Z03、电阻R09、电阻R010串联电路中的电阻R010上的电压达不到可控硅K01的触发电压,可控硅K01关断,充电正常进行;若充电器电压控制电路损坏后,蓄电池电压充到59V以上时,电阻R010上的电压达到可控硅K01的触发电压,使其开通,电流经电阻R011、光耦G1的LED、可控硅K01,并使可控硅K01自锁,这时,光耦G1的三极管部分导通,致控制模块M1的6脚高电平,使晶体管T1零电平就关断了开关电源,充电结束。
2、根据权利要求1所述的负载过流无损检测及充电过压保护的方法,其特征是:当过流或过压时,利用光耦G1中三级管部分的导通,外加电压给控制模块M1的6脚致高电平,使晶体管T1零电平就关断了开关电源,充电结束。
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