[发明专利]一种测定热传导率的方法

权利要求书

1.一种测定热传导率的方法，其特征在于：采用差示扫描量热仪测定待测样品的热传导率，所述的方法包括如下步骤：

①选定一个或几个标准样品，所述的标准样品的熔融吸热温度低于待测样品的转变温度；

②测试标准样品的熔融曲线，具体的步骤为将标准样品置于铂金坩埚中，将盛置有标准样品的铂金坩埚放入加盖的仪器坩埚内进行差示扫描量热法测定标准样品的熔融曲线；

③将待测样品置于装有标准样品的铂金坩埚和差示扫描量热仪的坩埚之间进行测定，其测定条件与步骤②相同；

④将测定结果与未放置待测样品时的测定结果比较，得待测样品的热传导率。

2.根据权利要求1所述的测定物质热传导率的方法，其特征在于所述的步骤②是在真空状态或保护气体下，逐渐升温至超过标准样品的熔融吸热温度。

3.根据权利要求2所述的测定物质热传导率的方法，其特征在于所述的保护气体为氮气或惰性气体。

4.根据权利要求3所述的测定物质热传导率的方法，其特征在于所述的惰性气体为氩气或氦气中的一种。

5.根据权利要求2所述的测定物质热传导率的方法，其特征在于所述的标准样品的熔融吸热温度为120K至1000K。

6.根据权利要求5所述的测定物质热传导率的方法，其特征在于所述的标准样品的熔融吸热温度为120K至700K。

7.根据权利要求6所述的测定物质热传导率的方法，其特征在于所述的标准样品的熔融吸热温度为300K至600K。

8.根据权利要求2所述的测定物质热传导率的方法，其特征在于所述的 升温速率为0.0167-0.833K/s。

9.根据权利要求8所述的测定物质热传导率的方法，其特征在于所述的升温速率为0.0333-0.167K/s。

10.按照权利要求2所述的测定物质热传导率的方法，其特征在于所述的热传导率计算公式为式(I)：

(I)

其中，κ为热传导率，单位为瓦每米每开尔文W.m^-1.K^-1；Q为标准样品和仪器坩埚之间有测试待测样品时的标准样品的熔融峰的积分面积，单位为焦耳J；ΔT为温差，单位为开尔文K；Δt为时间差，单位为s；H为待测样品的高度，单位m；S为待测样品的截面积，单位为m²；

所述的ΔT为温差，待测样品两端的温差平均值，可以用式(III)表示：

(III)

其中，v为升温速率，单位为开尔文每秒K/s；1/2表示取最高温差的一半；

所述的Δt为时间差，标准样品熔融过程所吸收的热量以热传导的形式通过待测样品所需要的时间，用式(II)表示：

(II)

其中，Q为标准样品和仪器坩埚之间有测试待测样品时的标准样品的熔融峰的积分面积，单位为焦耳J；P₂是与Q对应的熔融吸热峰峰高，单位瓦W； Q₁为标准样品和仪器坩埚之间没有测试待测样品时的标准样品的熔融峰的积分面积，单位为焦耳J；P₁是与Q₁对应的熔融吸热峰峰高，单位瓦W。