[发明专利]一种检测锁相环假锁的方法有效
申请号: | 200710074684.X | 申请日: | 2007-06-01 |
公开(公告)号: | CN101140308A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
发明(设计)人: | 吴安军 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 深圳市永杰专利商标事务所 | 代理人: | 曹建军 |
地址: | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 锁相环假锁 方法 | ||
1.一种检测锁相环假锁的方法,其特征在于,包括以下步骤:
a、初始化锁相环芯片用到的I/O管脚;
b、给锁相环寄存器配置失锁的数据,使得锁相环处于失锁状态;
c、检查锁相环是否处于失锁状态,如果失锁,则表明锁相环正常;如果不失锁,则表明锁相环有故障。
2.如权利要求1所述的检测锁相环假锁的方法,其特征在于,若步骤c中检测锁相环为失锁状态,则所述方法还包括步骤:
d、给锁相环寄存器配置正常的数据,检查锁相环是否处于锁定状态,如果锁定,表明锁相环正常,如果没有锁定,则表明锁相环有故障。
3.如权利要求1或2所述的检测锁相环假锁的方法,其特征在于,所述步骤c还包括,如果锁相环不失锁,设置失锁不成功的标志通知后台。
4.如权利要求1或2所述的检测锁相环假锁的方法,其特征在于,所述步骤d还包括:如果锁相环没有锁定,设置锁定不成功的标志通知后台。
5.如权利要求1或2所述的检测锁相环假锁的方法,其特征在于,所述方法还包括,当步骤c中检测到锁相环失锁失败时,可重新配置失锁数据进行检测。
6.如权利要求1或2所述的检测锁相环假锁的方法,其特征在于,所述方法还包括,当步骤d中检测到锁相环锁定失败时,可重新配置正常数据进行检测。
7.如权利要求1或2所述的检测锁相环假锁的方法,其特征在于,所述锁相环寄存器包括初始化寄存器、N寄存器、R寄存器、F寄存器。
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