[发明专利]一种检测锁相环假锁的方法

说明书

技术领域

本发明涉及数字锁相环，尤其涉及一种由于锁相环器件本身原因导致假锁现象的预防检测方法。

背景技术

数字锁相环是嵌入式系统中常用的器件。在系统初始化过程中需要对锁相环进行初始化配置，其配置主要有三个过程，第一个过程是初始化锁相环用到的I/O管脚，第二个过程是通过I/O管脚对锁相环内部的寄存器进行配数，第三个过程是通过I/O管脚检查锁相环是否锁定成功。

由于锁相环器件的原因，有时在给寄存器配数后，虽然锁相环没有锁定，但是通过I/O管脚检查锁相环的锁定状态依然显示锁定成功，这种现象被称之为假锁。目前系统中对假锁一般没有特别检测和处理。假锁现象虽然出现概率不高，但是一旦出现就影响单板正常运行，并且故障难以定位。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种检测锁相环的方法，在初始化阶段检测出锁相环芯片是否存在假锁现象，从而尽早定位锁相环芯片问题，预防假锁导致的故障。

为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

一种检测锁相环假锁的方法，包括以下步骤：

a、初始化锁相环芯片的I/O管脚；

b、给锁相环寄存器配置失锁的数据，使得锁相环处于失锁状态；

c、检查锁相环是否处于失锁状态，如果失锁，则表明锁相环正常；如果不失锁，则表明锁相环有故障。

其中，若步骤c中检测锁相环为失锁状态，则所述方法还包括步骤：

d、给锁相环寄存器配置正常的数据，检查锁相环是否处于锁定状态，如果锁定，表明锁相环正常，如果没有锁定，则表明锁相环有故障。

其中，所述步骤c还包括，如果锁相环不失锁，设置失锁不成功的标志通知后台。

其中，所述步骤d还包括：如果锁相环没有锁定，设置锁定不成功的标志通知后台。

其中，所述方法还包括，当步骤c中检测到锁相环失锁失败时，可重新配置失锁数据进行检测。

其中，所述方法还包括，当步骤d中检测到锁相环锁定失败时，可重新配置正常数据进行检测。

其中，所述锁相环寄存器包括初始化寄存器、N寄存器、R寄存器、F寄存器。

本发明的有益效果为：采用本发明，可以及时有效地检测出有假锁现象的锁相环芯片，预防假锁导致的故障，提高了系统的稳定性。

附图说明

图1是本发明检测锁相环假锁的方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细的描述：

在本实施例中，在CDMA2000-1X系统的BDM单板上使用锁相环芯片LMX2306，LMX2306和CPU在硬件上直接相连，配数过程完全由软件完成。如图1所示，检测方法包括以下步骤：

101：CPU上电后，对LMX2306用到的I/O管脚进行初始化。

102～105：对LMX2306的初始化寄存器、N寄存器、R寄存器、F寄存器配置失锁数据，使得锁相环处于失锁状态。

106：检测锁相环的状态，如果失锁成功，则进入下一步骤；如果失锁失败，则表明锁相环的芯片有故障，设置失锁不成功的标志通知后台程序进一步处理，之后结束本方法。

本步骤中，如果检测到锁相环失锁失败，可设置检测次数m，重新给寄存器配置失锁数据，进行多次检测，以获得可靠的结果。

107～110：给锁相环的初始化寄存器、N寄存器、R寄存器、F寄存器配置正常的数据，使得锁相环处于锁定状态。

111：检查锁相环的状态，如果锁定成功，则表明锁相环正常；如果锁定失败，则表明锁相环有故障，设定锁定失败标志，通知后台程序进一步处理。

本步骤中，如果检查出锁相环锁定失败，可设置检测次数n，重新给寄存器配置正常数据进行多次检测，以获得可靠的结果。

112：结束。

该方法可以在嵌入式系统中广泛应用，通过对锁相环假锁现象的检测有效的预防了假锁现象的发生，提高了系统的稳定性。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。