[发明专利]一种ITO测试板和测试方法有效

专利信息
申请号: 200710075821.1 申请日: 2007-07-05
公开(公告)号: CN101339302A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: 郑枫;石道才;周佩先 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01R31/28
代理公司: 深圳创友专利商标代理有限公司 代理人: 陈俊斌
地址: 518119广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 ito 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种ITO测试板,其特征是:包括玻璃基板、ITO导电层、绝缘层,该ITO导电层涂覆于该玻璃基板上,且该绝缘层涂覆于该ITO导电层的部分或全部表面,其中所述ITO导电层包括若干分区,每一分区包括二条线宽一致、线距一致、走线平行的ITO平行电极。

2.如权利要求1所述的ITO测试板,其特征是:所述ITO导电层包括若干分区;每二个分区为一组,在同组分区内,所述各ITO平行电极的线宽一致、线距一致;且该绝缘层仅涂覆于同组分区的其中之一分区之上;不同组分区之间,所述各ITO平行电极的线宽、线距之一或之二设置为不同值。

3.如权利要求1或2所述的ITO测试板,其特征是:所述ITO导电层包括若干分区;每一分区分别仿真STN或CSTN液晶显示器的ITO电极走线。

4.如权利要求1所述的ITO测试板,其特征是:所述ITO导电层包括若干分区;所述分区被整体划分为第一组和第二组,所述第一组中的各分区与所述第二组中的各分区一一对应,对应分区结构相同、各ITO平行电极的线宽线距分别相同;所述绝缘层仅涂覆于其中之一组分区之上;同一分区的各ITO平行电极的线宽线距分别相同。

5.一种ITO电极腐蚀的测试方法,包括如下步骤:将仿真ITO电极走线的ITO测试板置于预定温湿度的环境中,对ITO电极通以一定时间的工作电压,对ITO电极的腐蚀情况进行评估,其中

所述ITO测试板采用同一玻璃基板对称设置ITO导电层,所述ITO导电层包括若干分区,每一分区包括二条线宽一致、线距一致、走线平行的ITO平行电极。

6.如权利要求5所述的测试方法,其特征是:所述工作电压为仿真ITO电极在实际工作过程中所受的有效电压。

7.如权利要求5或6所述的测试方法,其特征是:所述ITO测试板同时仿真STN或CSTN液晶显示器的ITO电极走线;或分别仿真STN或CSTN液晶显示器的ITO电极走线。

8.如权利要求5或6所述的测试方法,其特征是:所述ITO测试板采用同一玻璃基板分区仿真STN和CSTN液晶显示器的ITO电极,各分区ITO电极的走线间距、线宽、绝缘层覆盖、绝缘层覆盖材料中的一个或一个以上因素不相同。

9.如权利要求5或6所述的测试方法,其特征是:所述ITO测试板采用同一玻璃基板对称设置ITO导电层,该ITO导电层包括分成第一组和第二组的若干分区,所述第一组中的各分区与所述第二组中的各分区一一对应,对应分区的ITO走线结构相同;每组内各分区的走线线宽或线距之一或之二设置为不同值;其中之一组涂覆绝缘层。

10.如权利要求5或6所述的测试方法,其特征是:对涂覆相同的绝缘层、相同线距、相同线宽的ITO电极,按正交设计的不同电压、温度、湿度组合成不同的高温高湿环境,对各组ITO电极通电相同时间,以评估不同电压、温度、湿度对ITO腐蚀的影响。

11.如权利要求5或6所述的测试方法,其特征是:对ITO电极走线线距相同、线宽相同的ITO测试板,涂覆不同之绝缘层,以评估不同之绝缘层材料的防腐性能。

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