[发明专利]一种ITO测试板和测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)制造领域的测试技术，具体地说是涉及一种ITO电极测试技术。

背景技术

ITO(Indium Tin Oxides，铟锡氧化物)玻璃是LCD重要组成部分，ITO腐蚀是液晶显示器制造中非常严重的问题。ITO腐蚀是指ITO在潮湿或酸碱环境下，得到电子还原成金属单体或交换得到酸碱根离子生成其它物质。导致ITO腐蚀的一般原因是对ITO层保护不足或在保护前ITO已被污染。ITO腐蚀会造成液晶显示板和液晶显示器的报废，ITO腐蚀是一种可靠性失效，发生过程缓慢，且通电状态能加速反应速度。所以如果在厂内留下隐患，有可能出现产品被销售至客户甚至是终端客户手上才体现，产品出现可靠性问题，厂家会遭到客户投诉并要负相关的连带责任。ITO腐蚀主要是由制程工艺来控制。制程工艺主要是通过加强对ITO表面的清洁，减少ITO表面污染，加强ITO表面防护来控制ITO腐蚀。目前ITO腐蚀改善中对于改善效果评价一般是使用实际产品加电后进行可靠性试验，根据可靠性试验是否出现腐蚀来判定改善的好坏。但实际中不同产品之间存在着差异：不同IC有不同的输出电压，不同LCD有不同的ITO走线线距和线宽。而且产品驱动过程中由于显示画面的不同颜色是由相邻RGB象素的不同灰阶混合而成，所以在复杂画面中每根ITO线出现各灰阶电压的概率不一致，每一根ITO走线之间所承受的平均电压也不一样。这样每根ITO在不同的电压条件下进行可靠性测试，得出的腐蚀评估不能体现出改善所适应的条件范围。而且由于条件的不一致，每根ITO走线出现腐蚀的概率也不一样。同样对于改善中所采用的材料的评估也不够科学，而且对于可靠性测试中对腐蚀的极限条件也很难评估。

发明内容

本发明的主要目的是：为了解决现有技术中对ITO玻璃腐蚀的改善效果评估不方便，不准确的问题，提出一种测试板及其测试方法。

为了实现上述目的，本发明提供一种ITO测试板，包括玻璃基板、ITO导电层、绝缘层，该ITO导电层涂覆于该玻璃基板上，且该绝缘层涂覆于该ITO导电层的部分或全部表面，其中所述ITO导电层包括若干分区，每一分区包括二条线宽一致、走线平行的ITO平行电极。所述ITO导电层的各分区ITO平行电极的线宽、线距之一或之二设置为不同值。

上述的ITO测试板，所述ITO导电层包括若干分区；每二个分区为一组，在同组分区内，所述各ITO平行电极的线宽一致、线距一致；且该绝缘层仅涂覆于同组分区的其中之一分区之上；不同组分区之间，所述各ITO平行电极的线宽、线距之一或之二设置为不同值。

上述的ITO测试板，所述ITO导电层包括若干分区；每一分区分别仿真STN或CSTN液晶显示器的ITO电极走线。

上述的ITO测试板，所述ITO导电层包括若干分区；所述分区被整体划分为第一组和第二组，所述第一组中的各分区与所述第二组中的各分区一一对应，对应分区结构相同、各ITO平行电极的线宽线距分别相同；所述绝缘层仅涂覆于其中之一组分区之上；同一分区的各ITO平行电极的线宽线距分别相同。

本发明还提供了一种ITO电极腐蚀的测试方法，包括如下步骤：将仿真ITO电极走线的ITO测试板置于预定温湿度的环境中，对ITO电极通以一定时间的工作电压，对ITO电极的腐蚀情况进行评估，其中所述ITO测试板采用同一玻璃基板对称设置ITO导电层，所述ITO导电层包括若干分区，每一分区包括二条线宽一致、线距一致、走线平行的ITO平行电极。

上述的测试方法，所述工作电压为仿真ITO电极在实际工作过程中所受的有效电压。

上述的测试方法，所述ITO测试板同时仿真STN或CSTN液晶显示器的ITO电极走线；或分别仿真STN或CSTN液晶显示器的ITO电极走线。

上的测试方法，所述ITO测试板采用同一玻璃基板分区仿真STN和CSTN液晶显示器的ITO电极，各分区ITO电极的走线间距、线宽、绝缘层覆盖、绝缘层覆盖材料中的一个或一个以上因素不相同。

上述的测试方法，所述ITO测试板采用同一玻璃基板对称设置ITO导电层，该ITO导电层包括分成第一组和第二组的若干分区，所述第一组中的各分区与所述第二组中的各分区一一对应，对应分区的ITO走线结构相同；每组内各分区的走线线宽或线距之一或之二设置为不同值；其中之一组涂覆绝缘层。