[发明专利]温度测量装置及其温度校验方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种控制系统，特别涉及其中的温度测量装置。

温度测量技术中，一般使用制造商提供的电阻跟温度的特性关系函数曲线，在其上插入若干个点，相临两点用直线相连，这样该特性曲线就被分为了若干小段，设每段的斜率为k_x(x为每段的段号)，在温度测量装置获得采样的AD值后，根据AD转换算法，算出其对应的电压值V_X，再根据公式VCCRXRX+r=VX]]>反算出电阻值R_X，RX=VXrVCC-VX,]]>这样便可以知道此R_X位于分段函数的哪一段，然后根据斜率即可算出对应的温度T_X，如图2所示，TX=T2-K3(R2-VXrVCC-VX).]]>从计算公式就可以看出V_CC的变化会对温度值的精确度产生影响，事实上因为元器件的差异性，每个温度测量装置的V_CC都不相同，从而使所测得的温度出现误差，据实际测量，V_CC的每20mv的电压波动即可以导致1度的温度测量误差，对产品的性能造成很大影响。

本发明的主要目的是：提供一种降低温度测量误差、使测量结果更为准确的温度测量装置及其温度校验方法。

为实现上述目的，本发明提出一种温度测量装置，包括温度传感器、MCU、存储器，所述温度传感器与所述MCU采样端连接；所述存储器内置于所述MCU，或外置并与所述MCU连接；所述存储器内置有温度传感器采样模数转换值-温度对应关系曲线；所述MCU采样温度传感器的压降，得出其采样模数转换值；由所述采样模数转换值-温度对应关系曲线计算出对应的温度值，其中所述MCU利用若干校验支路以及从所述温度传感器的电阻-温度对应关系曲线选取的用于模拟所述温度传感器的校验电阻，采样校验支路逐一接入所述温度测量装置后各个校验电阻对应的压降以得到对应的采样模数转换值，所述存储器存储所述采样模数转换值以与各个校验电阻对应的温度值构成所述采样模数转换值-温度对应关系曲线。

上述的温度测量装置，还包括CAN收发器，与所述MCU连接。

同时，本发明提出了一种温度校验方法，包括如下步骤：采用测试工装设置若干校验支路，每一校验支路根据温度传感器的电阻-温度对应关系阻值对应的压降，得出其采样模数转换值；将采样模数转换值一一存储于温度测量装置的存储器中，并与该校验电阻值对应的温度值构成温度传感器的采样模数转换值-温度对应关系曲线。