[发明专利]显示面板、显示面板的引脚接合及检测方法有效

专利信息
申请号: 200710089644.2 申请日: 2007-03-22
公开(公告)号: CN101271646A 公开(公告)日: 2008-09-24
发明(设计)人: 陈永坚 申请(专利权)人: 中华映管股份有限公司
主分类号: G09F9/00 分类号: G09F9/00;H05K1/02;G01B21/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 左一平
地址: 台湾省台北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 引脚 接合 检测 方法
【权利要求书】:

1. 一种显示面板,其特征在于,包括:

一基板,具有一显示区及一位于该显示区一侧的非显示区,其中该非显示区内有多个接垫区,而每一接垫区内配置有多个第一引脚以及至少一第一位移量测标志,该第一位移量测标志位于所有所述第一引脚至少一侧;以及

多个芯片承载薄膜,对应贴附于所述基板,其中每一芯片承载薄膜具有多个第二引脚以及至少一第二位移量测标志,该第二位移量测标志位于所有所述第二引脚至少一侧,并与所述第一位移量测标志对应,而所述第二引脚与所述第一引脚对应连接。

2. 如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述第一位移量测标志为一计数刻度,而所述第二位移量测标志为一指标。

3. 如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述第一位移量测标志为一指标,而所述第二位移量测标志为一计数刻度。

4. 一种显示面板的引脚接合的检测方法,其特征在于,包括:

提供一基板,其中该基板的一非显示区内的多个接垫区内分别配置有多个第一引脚以及位于所有所述第一引脚至少一侧的至少一第一位移量测标志;

提供多个芯片承载薄膜,其中每一芯片承载薄膜具有多个第二引脚以及至少一第二位移量测标志,且该至少一第二位移量测标志位于所有所述第二引脚至少一侧,而该第二位移量测标志对应该第一位移量测标志;

压合相对应的所述第一引脚及所述第二引脚;以及

检测所述第二位移量测标志与所述第一位移量测标志的一对位偏移量。

5. 如权利要求4所述的显示面板的引脚接合的检测方法,其特征在于,检查所述第一、第二位移量测标志的对位偏移量的方法包括目视。

6. 如权利要求4所述的显示面板的引脚接合的检测方法,其特征在于,还包括计算所述对位偏移量,以在所述基板的每一接垫区内定义出一搭载区。

7. 一种显示面板的引脚接合的方法,其特征在于,包括:

提供一基板,其中该基板的一非显示区内的多个接垫区内分别配置有多个第一引脚以及位于所有所述第一引脚至少一侧的至少一第一位移量测标志,且每一接垫区内有一搭载区;

提供多个芯片承载薄膜,其中每一芯片承载薄膜具有多个第二引脚以及至少一第二位移量测标志,且该至少一第二位移量测标志位于所有所述第二引脚至少一侧,而该第二位移量测标志对应该第一位移量测标志;以及

压合位于所述搭载区内的所述第一引脚及相对应的所述第二引脚。

8. 如权利要求7所述的显示面板的引脚接合的方法,其特征在于,所述搭载区是借由计算所述第一位移量测标志与第二位移量测标志的对位偏移量而定义。

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