[发明专利]显示面板、显示面板的引脚接合及检测方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种显示面板，且特别是有关于一种能够轻易地检测接合的引脚的偏移量的显示面板、显示面板的引脚接合的检测方法及显示面板的引脚接合的方法。

背景技术

平面显示器的构件包括显示面板、用以提供显示面板足够亮度的光源，以及配置在显示面板的基板上的驱动芯片，其中驱动芯片用以驱动显示面板内部的电路，使显示面板可以显示图像。

图1A为现有的显示面板的示意图，而图1B为图1A的局部放大图。请参考图1，在显示面板100中，基板110的非显示区110a内，有多个接垫区120，且每一个接垫区120中配置有多个引脚122。这些引脚122用以与驱动芯片130的引脚132对应连接。

然而，由于引脚122、132的材料特性，因此在将驱动芯片的引脚132与接垫区120中的引脚122热压着接合时，引脚122会随着其在接垫区120中的配置位置不同，而有形状胀缩的品质不稳定问题。此问题容易影响到驱动芯片130的引脚132与接垫区120中的引脚122的接合良率。当驱动芯片130的引脚132与基板110上的引脚122的接合良率低时，容易影响到显示面板100的显示品质。此外，显示面板100需重新制作，浪费重工的人力、工时，而显示面板100的制作成本也无法有效降低。

发明内容

本发明为解决现有技术存在的上述问题而提供一种容易辨识引脚接合良率的显示面板。

本发明还提供一种显示面板的引脚接合的检测方法，其能够轻易地辨识引脚的接合良率。

本发明再提供一种显示面板的引脚接合的方法，其可以提高显示面板的引脚接合良率。

本发明提出一种显示面板，其包括一基板以及多个芯片承载薄膜。基板具有一显示区及一位于显示区一侧的非显示区，其中非显示区内有多个接垫区，而每一接垫区内配置有多个第一引脚以及至少一第一位移量测标志，第一位移量测标志位于所有第一引脚的至少一侧。芯片承载薄膜对应贴附于基板，其中每一芯片承载薄膜具有第二引脚以及第二位移量测标志，第二位移量测标志位于所有第二引脚的至少一侧，并与第一位移量测标志对应，而第二引脚与第一引脚对应连接。

在本发明的上述显示面板中，上述的第一位移量测标志为一计数刻度，而第二位移量测标志为一指标。

在本发明的上述显示面板中，上述的第一位移量测标志为一指标，而第二位移量测标志为一计数刻度。

本发明提出一种显示面板的引脚接合的检测方法，其包括下列的步骤：首先，提供一基板，其中基板的一非显示区内的多个接垫区内分别配置有多个第一引脚以及位于所有第一引脚至少一侧的至少一第一位移量测标志。然后，提供多个芯片承载薄膜，其中每一芯片承载薄膜具有多个第二引脚以及至少一第二位移量测标志，且至少一第二位移量测标志位于所有第二引脚至少一侧，而第二位移量测标志对应第一位移量测标志。接着，压合相对应的第一引脚及第二引脚。最后，检测第二位移量测标志与第一位移量测标志的对位偏移量。

在本发明的上述显示面板的引脚接合的检测方法中，上述的检查第一、第二位移量测标志的对位偏移量的方法包括目视。

上述的显示面板的引脚接合的检测方法还包括计算对位偏移量，以在基板的每一接垫区内定义出一搭载区。

本发明提出一种显示面板的引脚接合的方法，其包括下列的步骤：首先，提供一基板，其中基板的一非显示区内的多个接垫区内分别配置有多个第一引脚以及位于所有第一引脚至少一侧的至少一第一位移量测标志，且每一接垫区内有一搭载区。然后，提供多个芯片承载薄膜，其中每一芯片承载薄膜具有多个第二引脚以及至少一第二位移量测标志，且第二位移量测标志位于所有第二引脚至少一侧，而第二位移量测标志对应第一位移量测标志。最后，压合位于搭载区内的第一引脚及相对应的第二引脚。

在本发明的上述显示面板的引脚接合的方法中，上述的搭载区是借由计算第一位移量测标志与第二位移量测标志的对位偏移量而定义。

本发明利用基板的接垫区及芯片承载薄膜上的位移量测标志来检测第一引脚与第二引脚的接合良率，因此可以节省人力及检测工时。此外，利用本发明的显示面板的引脚接合的检测方法，计算出第一位移量测检测标志的对位偏移量，可定义出基板的搭载区。之后，压合位于搭载区内的第一引脚与第二引脚，可节省成本及提高接合良率。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：

图1A为现有的显示面板的示意图。

图1B为图1A的局部放大图。

图2A为本发明一实施例的显示面板的局部示意图。