[发明专利]等离子体显示面板无效
申请号: | 200710091704.4 | 申请日: | 2007-03-29 |
公开(公告)号: | CN101165840A | 公开(公告)日: | 2008-04-23 |
发明(设计)人: | 金基东 | 申请(专利权)人: | 三星SDI株式会社 |
主分类号: | H01J17/49 | 分类号: | H01J17/49;H01J17/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 臧霁晨;梁永 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 等离子体 显示 面板 | ||
1.一种等离子体显示面板(PDP)包括:
介电层;以及
形成在所述介电层上的保护层;所述保护层包括氧化镁(MgO)、第一掺杂物和第二掺杂物;所述第一掺杂物包括钙(Ca)、铝(Al)和硅(Si),所述第二掺杂物选自由铁(Fe)、锆(Zr)和它们的组合构成的组,以及
基于MgO的含量,所述Ca含量的质量为100到300ppm。
2.如权利要求1所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,所包括的钙含量的质量约为160ppm到约为180ppm。
3.如权利要求1所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,包括在所述保护层中的硅含量的质量约为40ppm到约为150ppm。
4.如权利要求3所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,所包括的硅含量的质量约为100ppm到约为120ppm。
5.如权利要求1所述的等离子体显示面板,其特征在于,所述第二掺杂物包括铁,并且基于所述氧化镁的质量,包括在所述保护层中的铝含量的质量约为150ppm到约为250ppm。
6.如权利要求5所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,所包括的铝含量的质量约为190ppm到约为210ppm。
7.如权利要求1所述的等离子体显示面板,其特征在于,所述第二掺杂物包括铁,并且基于所述氧化镁的质量,包括在所述保护层中的铁含量的质量约为10ppm到约为40ppm。
8.如权利要求7所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,所包括的铁含量的质量约为20ppm到约为30ppm。
9.如权利要求1所述的等离子体显示面板,其特征在于,所述第二掺杂物包括锆,并且基于所述氧化镁的质量,包括在所述保护层中的铝含量的质量约为150ppm到约为170ppm。
10.如权利要求1所述的等离子体显示面板,其特征在于,所述第二掺杂物包括锆,以及基于所述氧化镁的质量,包括在所述保护层中的锆含量的质量约为40ppm到约为100ppm。
11.如权利要求10所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,所包括的锆含量的质量约为50ppm到约为80ppm。
12.一种等离子体显示面板(PDP)包括:
形成在第二基板的内表面上并覆盖显示电极的介电层;以及
形成在所述介电层上的保护层;所述保护层包括氧化镁(MgO)、钙(Ca)、铝(Al)、硅(Si)和锆(Zr)。
13.如权利要求12所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,包括在所述保护层中的钙含量的质量约为100ppm到约为300ppm。
14.如权利要求13所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,所包括的钙含量的质量约为160ppm到约为180ppm。
15.如权利要求12所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,包括在所述保护层中的硅含量的质量约为40ppm到约为150ppm。
16.如权利要求15所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,所包括的硅含量的质量约为100ppm到约为120ppm。
17.如权利要求12所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,包括在所述保护层中的铝含量的质量约为150ppm到约为250ppm。
18.如权利要求17所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,所包括的铝含量的质量约为150ppm到约为170ppm。
19.如权利要求12所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,包括在所述保护层中的锆含量的质量约为40ppm到约为100ppm。
20.如权利要求19所述的等离子体显示面板,其特征在于,基于所述氧化镁的质量,所包括的锆含量的质量约为50ppm到约为80ppm。
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