[发明专利]荧光X射线分析设备

权利要求书

1.一种荧光X射线分析设备，其包括：

用于容纳固体样品或液体样品的样品密封构件，其由X射线传输 通过的材料制成；

用于产生初级X射线的X射线源，初级X射线以放射状的方式从 样品密封构件的侧壁进入，以便用X射线照射样品；及

检测器，其与样品密封构件的底面相对设置，并具有在样品的方 向内从入射点延伸至检测元件的入射立体角，用于检测从给予初级X 射线的样品产生的荧光X射线；

其中荧光X射线分析设备从检测的荧光X射线的谱进行样品的元 素的分析；

样品密封构件具有向着检测器逐渐变细的锥形形状，且锥形形状 从样品密封构件的底面朝着检测器设置的侧面相对的方向随着检测 器的视场的延伸而延伸。

2.根据权利要求1所述的荧光X射线分析设备，

其中产生初级X射线的X射线源与样品密封构件的侧壁相对设 置。

3.根据权利要求1所述的荧光X射线分析设备，

其中初级X射线布置为能够照射检测器相对的样品密封构件的 底面。

4.根据权利要求1所述的荧光X射线分析设备，

其中样品密封构件为可以自由地接附和分开的样品外壳。

5.根据权利要求1所述的荧光X射线分析设备，

其中通过插入初级滤光器用于选择性地仅激发X射线源和样品 密封构件的侧壁之间的聚焦元素，当检测器观察聚焦元素时，改进聚 焦元素在谱上的峰-背比例。

6.根据权利要求1所述的荧光X射线分析设备，

其中通过在样品密封构件的侧壁上设置用于产生最适于激发聚 焦元素的荧光X射线的金属壁，当从检测器观察时，改进聚焦元素在 谱上的峰-背比例。

7.根据权利要求1所述的荧光X射线分析设备，

其中通过在样品和检测器之间具有用于仅允许聚焦元素的荧光X 射线选择性地传输通过的次级滤光器，当从检测器观察时，改进聚焦 元素在谱上的峰-背比例。

8.根据权利要求1所述的荧光X射线分析设备，

在样品密封构件的初级X射线入射表面上，具有不少于一件允许 用于激发聚焦元素的X射线有选择性地传输通过的初级滤光器；

其中通过旋转样品密封构件，初级滤光器可以改变。

9.根据权利要求1所述的荧光X射线分析设备，

在样品密封构件的检测器的底面上，包括至少一件允许聚焦元素 的荧光X射线有选择性地传输通过的次级滤光器；

其中通过旋转样品密封构件，次级滤光器可以改变。

10.根据权利要求1所述的荧光X射线分析设备，

其中通过在样品密封构件的侧壁上设置至少一个用于产生最适 于激发聚焦元素的荧光X射线的金属构件，通过旋转样品密封构件， 金属构件可以改变。