[发明专利]光吸收防反射构造体,光学单元,透镜镜筒单元和光学装置有效
申请号: | 200710104989.0 | 申请日: | 2007-05-15 |
公开(公告)号: | CN101082680A | 公开(公告)日: | 2007-12-05 |
发明(设计)人: | 吉川智延;山口博史;山田和宏;田村隆正;石丸和彦 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G02B1/11 | 分类号: | G02B1/11;G02B7/02 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 | 代理人: | 孙敬国;张惠萍 |
地址: | 日本国大阪府*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光吸收 反射 构造 光学 单元 透镜 装置 | ||
1.一种光吸收防反射构造体,用于抑制波长等于或大于规定波长的光的反射并吸收该 反射被抑制的光,其特征在于,所述光吸收防反射构造体具有表面粗糙度大于所述规定波 长的粗糙表面,
在所述粗糙表面上形成有多个微小凹凸部,所述微小凹凸部是以小于或等于所述规定 波长的周期规则地排列的;
所述粗糙表面呈非周期性粗糙形状;其中,所述粗糙表面,形成为使以所述粗糙形状 的中心周期归一化后的周期的分布宽度大于或等于该中心周期的0.4倍。
2.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,所述每个微小凹凸部, 是大致呈圆锥体/棱锥体状的凹部或凸部,或者是细长状的凹部或细长状的凸部。
3.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,由ISO4287:1997所规 定的最大高度粗糙度Rz表示的所述粗糙表面的表面粗糙度大于所述规定波长。
4.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,由ISO4287:1997所规 定的最大高度粗糙度Rz表示的所述粗糙表面的表面粗糙度小于100μm。
5.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,由ISO4287:1997所规 定的最大高度粗糙度Rz表示的所述粗糙表面的表面粗糙度小于50μm。
6.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,由ISO4287:1997所规 定的最大高度粗糙度Rz表示的所述粗糙表面的表面粗糙度小于30μm。
7.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,所述多个微小凹凸部 在所述粗糙表面的基准面的法线方向上各自的高度大致相等。
8.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,所述粗糙表面,形成 为使以所述粗糙形状的中心周期归一化后的周期的分布宽度大于或等于该中心周期的2/3 倍。
9.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,在通过对所述粗糙表 面的在基准面的法线方向上的高度分布进行傅里叶变换而得到的频谱中,由于所述粗糙表 面的粗糙形状而形成的高峰的宽度,大于所述频谱中由于所述微小凹凸部而形成的高峰的 宽度。
10.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,所述粗糙表面被配置 成使得所述粗糙表面的粗糙形状的切面的法线矢量与所述粗糙表面的基准面的法线矢量 所成的角度的平均值在5度以上。
11.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,所述粗糙表面被配置 成使得所述粗糙表面的粗糙形状的切面的法线矢量与所述粗糙表面的基准面的法线矢量 所成的角度分布的峰值大于0度。
12.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,所述粗糙表面被配置 成使得所述粗糙表面的粗糙形状的切面的法线矢量与所述粗糙表面的基准面的法线矢量 所成的角度在5度以下的部分在每单位面积中的面积百分比小于80%。
13.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,所述粗糙表面被配置 成使得所述粗糙表面的粗糙形状的切面的法线矢量与所述粗糙表面的基准面的法线矢量 所成的角度在10度以下的部分在每单位面积中的面积百分比小于90%。
14.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,所述粗糙表面基本上 由这样的面构成,在该面中所述粗糙表面的粗糙形状的切面的法线矢量与所述粗糙表面的 基准面的法线矢量所成的角度小于或等于90度。
15.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,所述多个微小凹凸部 中的每一个微小凹凸部都是圆锥体/棱锥体状凹部或凸部,所述多个微小凹凸部的将每一 个微小凹凸部的底部中心和顶部连接起来的中心轴相互大致平行。
16.根据权利要求1所述的光吸收防反射构造体,其特征在于,所述多个微小凹凸部 中的每一个微小凹凸部的高度都大于或等于所述反射被抑制的光的波长的0.4倍。
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