[发明专利]半导体器件无效

专利信息
申请号: 200710105461.5 申请日: 2007-05-31
公开(公告)号: CN101083142A 公开(公告)日: 2007-12-05
发明(设计)人: 黑住知弘;县泰宏;市川修;永井慎太郎 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11C29/44 分类号: G11C29/44;G11C29/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 季向冈
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,其特征在于,具有:

多个冗余存储器,该冗余存储器具有多个存储单元,当在上述存储单元中存在故障单元时能进行救济并能独立进行工作;以及

救济处理部,该救济处理部在上述多个冗余存储器中的至少一个具有故障单元时存储用于救济上述冗余存储器的救济信息,并进行上述冗余存储器的救济处理,其中,

上述救济信息被串行存储于上述救济处理部中且为上述多个冗余存储器所共有。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于:

共有上述救济处理部的上述多个冗余存储器是位结构或字结构彼此不同的存储器,共有上述救济处理部的信息的一部分或全部。

3.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于:

上述救济处理部具有根据所存储的上述救济信息而被编程的电熔丝元件。

4.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于:

上述救济处理部具有根据所存储的上述救济信息而被设定存储数据的非易失性存储器元件。

5.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于:

上述救济处理部被构成为:使其在该半导体器件的电源断开时保持上述救济信息。

6.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于:

当芯片内存在多个上述救济处理部时,依次进行如下连接,即使1个该救济处理部的数据输出侧与另一上述救济处理部的数据输入侧连接,使该另一救济处理部的数据输出侧与此外的另一救济处理部的数据输入侧连接。

7.根据权利要求6所述的半导体器件,其特征在于:

在上述多个救济处理部间的连接中,设有用于保持数据的锁存电路。

8.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于:

上述救济处理部具有多个故障救济部,上述故障救济部分别具有能存储上述救济信息的救济信息存储部,上述救济信息根据数据传送动作而被串行存储于上述救济信息存储部。

9.根据权利要求8所述的半导体器件,其特征在于:

对于上述救济处理部具有的故障救济部,上述多个冗余存储器分别仅与需要的上述故障救济部连接在一起。

10.根据权利要求8所述的半导体器件,其特征在于:

其具有测试电路,该测试电路进行上述多个冗余存储器的检查,且当判断为存在故障单元时,输出上述救济信息,

上述测试电路是串行输出上述救济信息的电路,

上述救济处理部使用其数据传送动作将从上述测试电路串行输出的上述救济信息存储于上述救济信息存储部。

11.根据权利要求10所述的半导体器件,其特征在于:

上述测试电路对每个上述冗余存储器至少进行正常、能够救济、以及不可救济的判断,能够根据对每个上述冗余存储器的判断结果来控制是否将从上述测试电路输出的救济信息存储于上述救济处理部。

12.根据权利要求10所述的半导体器件,其特征在于:

上述测试电路根据共有上述救济处理部的全部上述冗余存储器的检查结果,至少进行正常、能够救济、以及不可救济的判断,能够根据该判断结果进行控制,以使从上述测试电路输出的救济信息存储于上述救济处理部。

13.根据权利要求11所述的半导体器件,其特征在于:

能够根据上述测试电路输出的救济控制信号来进行控制,以使仅在对每个上述冗余存储器的判断结果为能够救济的情况下,将从上述测试电路输出的救济信息存储于上述救济处理部。

14.根据权利要求11所述的半导体器件,其特征在于:

能够进行控制,以使在共有上述救济处理部的上述多个冗余存储器的判断结果中,当进行了2次以上能够救济的判断时,判断为不可救济。

15.根据权利要求14所述的半导体器件,其特征在于:

能够进行控制,以使在共有上述救济处理部的上述多个冗余存储器的判断结果中,保持进行第一次救济判断时的救济地址,并进行与第二次以后的救济判断时的救济地址是否一致的判断,当一致时,判断为不可救济。

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