[发明专利]反射式背光源检测方法及其结构无效

专利信息
申请号: 200710108438.1 申请日: 2007-06-14
公开(公告)号: CN101324536A 公开(公告)日: 2008-12-17
发明(设计)人: 叶公旭;黄嘉兴 申请(专利权)人: 东捷科技股份有限公司
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958;G01N21/956;H01L21/66
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 反射 背光源 检测 方法 及其 结构
【权利要求书】:

1.一种反射式背光源检测方法,其特征在于包含下列各步骤:

a)提供一透光待测物以及一反光板,该反光板是位于该透光待测物底侧;

b)提供一环型光纤以及一光源,该环型光纤是可位移地位于该透光待测物顶侧,且未接触该透光待测物,该光源对该环型光纤进行投射;

c)当该光源投射于该环型光纤,会形成多条入射光,各该入射光会自该环型光纤穿经该透光待测物,再经由该反光板形成多条反射光;以及

d)提供一检测镜头,是透过该反射光对该透光待测物进行检测,以检知该透光待测物的品质。

2.依据权利要求1所述的反射式背光源检测方法,其特征在于:步骤b)的该环型光纤是具有一穿孔,该穿孔对应步骤c)的该检测镜头,步骤d)的该反射光穿经该穿孔。

3.依据权利要求1所述的反射式背光源检测方法,其特征在于:步骤d)的该检测镜头,为显微镜激光组。

4.依据权利要求1所述的反射式背光源检测方法,其特征在于:步骤d)的该检测镜头,是与该环型光纤同步位移。

5.一种反射式背光源检测结构,是用于检测一玻璃机板,其特征在于该反射式背光源检测结构包含有:

一反光板,是位于该透光待测物底侧;

一环型光纤,是可位移地位于该透光待测物顶侧,且未接触该透光待测物;

一光源,对该环型光纤进行投射,以形成多条入射光,各该入射光会自该环型光纤穿经该透光待测物,再经由该反光板形成多条反射光;以及

一检测镜头,是透过该反射光对该透光待测物进行检测,以检知该透光待测物的品质。

6.依据权利要求5所述的反射式背光源检测结构,其特征在于:该环型光纤是具有一穿孔,该穿孔对应该检测镜头,该反射光穿经该穿孔。

7.依据权利要求5所述的反射式背光源检测结构,其特征在于:该检测镜头为显微镜激光组。

8.依据权利要求5所述的反射式背光源检测结构,其特征在于:该检测镜头是与该环型光纤同步位移。

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