[发明专利]存取性能调整方法和存储装置无效

专利信息
申请号: 200710108973.7 申请日: 2004-07-13
公开(公告)号: CN101064164A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 山本道夫 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18;G11B27/10;G11B5/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 存取 性能 调整 方法 存储 装置
【说明书】:

本申请是原案申请号为200410063600.9的发明专利申请(申请日:2004年7月13日,发明名称:存取性能调整方法和存储装置)的分案申请。

技术领域

本发明总体上涉及存取性能调整方法和存储装置,更具体地涉及用于调整对于记录介质的顺序存取性能和随机存取性能的存取性能调整方法,并涉及采用这种存取性能调整方法的存储装置。

背景技术

在使用磁盘(该磁盘具有其上记录有数据的同心磁道)的磁盘装置中,执行顺序存取以顺序存取多个磁道。为了在执行顺序存取时高速进行数据传输,使用了所谓的“斜移(skew)”技术。斜移技术根据磁头从一个磁道移动到另一个磁道所花的时间(下文中称为磁头移动时间)转换各个磁道的数据写入起始位置。

例如,假设不使用斜移技术并且两个相邻的磁道的数据存取起始位置物理地沿相同的径向设置。在这种情况下,当完成对第一磁道的存取且磁头将向相邻的第二磁道移动时,磁头不能及时移动到第二磁道的数据存取起始位置,而需要等待磁盘旋转一周。换言之,产生了等待时间。但是当使用斜移技术时,沿圆周方向以与磁头移动时间相对应的量从第一磁道的数据存取起始位置转换到第二磁道的数据存取起始位置,以减少等待时间。当使用斜移技术时,通过减少由等待时间引起的数据存取延迟来提高存取性能。因此,当及时进行转换时,将斜移量设置为使得最小值等于两个相邻磁道之间的磁头移动时间。

另一方面,磁盘装置使用称为“缺陷磁道回避处理”的技术以避开存在于磁盘上的缺陷磁道。当在磁盘上检测到缺陷磁道时,该缺陷磁道回避处理通过在缺陷磁道的内周边侧准备并使用备用磁道来避开该缺陷磁道,以将磁盘装置中的磁道总数保持为常量。

磁盘装置的记录密度逐年上升,且已经提出根据磁头和磁盘的性能可变地设置记录密度(例如,位每英寸(BPI)或磁道每英寸(TPI))的系统。可以通过将BPI或TPI可变地设置为对于磁头和磁盘的每一个组合的最优值来提高磁盘装置的容量(yield)。然而,当采用这种系统时,磁道内的扇区数和柱面(cylinder)数对于磁头和磁盘的每一个组合和/或对每一个磁盘装置变得不同。BPI或TPI的可变设置不是由用户进行的,而是在装运该磁盘装置时进行的。

在具有可变设置的记录密度(例如,BPI和TPI)的磁盘装置中,数据传输速率对于每一个磁头和/或每一个磁盘装置变得不同。由此,即使在具有相同存储容量的磁盘装置中,存在的第一个问题是在磁盘装置之间顺序存取性能变得大为不同。

此外,当进行缺陷磁道回避处理时,所使用的磁道向磁盘的内周边侧移动。因此,如果在具有多个磁盘的磁盘装置中的特定磁盘上频繁地检测到缺陷磁道,则在该特定磁盘上的数据存储位置变得与磁盘装置中其他磁盘上的对应数据存取位置大为不同。结果,与其上未检测到缺陷磁道的磁盘相比,对于该特定磁盘的磁头寻道距离变得更长。因此,存在的第二个问题在于:根据缺陷磁道的数量,磁盘装置内的各个磁盘之间对于任意磁道的随机存取性能变得大为不同,并且由于类似的原因而导致在具有相同存储容量的磁盘装置之间随机存取性能变得大为不同。

此外,在具有可变设置的记录密度(例如,BPI和TPI)的磁盘装置中,在避开一个磁道时的柱面宽度对于每一个磁头和/或每一个磁盘装置变得不同,并且在磁头之间柱面的物理位置方面的差异增大。因此,存在的第三个问题在于:在磁盘装置之间随机存取性能变得大为不同,即使在具有相同存储容量的磁盘装置之间。

上述第一到第三个问题不仅存在于磁盘装置中,而且存在于具有各种记录介质的存储装置(例如,光盘装置和磁光盘装置)中。

发明内容

因此,本发明总的目的是提供一种新颖且有用的存取性能调整方法和存储装置,其中消除了上述问题。

本发明的另一个和更具体的目的是提供一种存取性能调整方法和存储装置,其可以解决上述第一到第三个问题中的至少一个,并且实现对于记录介质一致的存取性能。

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