[发明专利]存储设备、存储设备寿命监控装置及监控方法有效
申请号: | 200710118971.6 | 申请日: | 2007-06-15 |
公开(公告)号: | CN101079324A | 公开(公告)日: | 2007-11-28 |
发明(设计)人: | 张少林;王少勇;李敏秋;饶兴;龚颜;陶林;石磊;杨剑;陈宣 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10;G11C29/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 518129广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 设备 寿命 监控 装置 方法 | ||
1、一种存储设备寿命监控装置,其特征在于,所述存储设备寿命监控装置包括:
擦写次数获得模块,用于获得存储设备各擦写块的已擦写次数;
正常块比例阈值模块,用于存储正常块比例阈值,所述正常块比例阈值为当所述存储设备能够正常使用时,所述存储设备中正常擦写块个数与擦写块总数的比值的最小值;
擦写次数提取模块,用于根据所述正常块比例阈值,按照各已擦写次数数值的大小提取数个所述已擦写次数;
寿命指标获得模块,用于根据提取出的数个所述已擦写次数获得表征所述存储设备寿命状况的寿命指标,所述寿命指标由提取的数个擦写块的平均被擦写次数与最大可擦写次数的比值来表征。
2、根据权利要求1所述的存储设备寿命监控装置,其特征在于,所述擦写次数提取模块包括:
排序模块,用于对各擦写块的已擦写次数排序,生成已擦写次数序列;
指向模块,用于确定所述正常块比例阈值指向的已擦写次数在所述已擦写次数序列中的位置;
提取模块,用于根据提取规则及所述位置提取已擦写次数,所述提取规则至少包括提取方式及提取的擦写次数的个数。
3、根据权利要求2所述的存储设备寿命监控装置,其特征在于,所述擦写次数提取模块还包括:规则模块,用于设置所述提取规则。
4、根据权利要求1所述的存储设备寿命监控装置,其特征在于,所述寿命指标获得模块包括:
最大可擦写次数模块,用于存储所述擦写块的最大可擦写次数;
平均值模块,用于获得提取出的数个所述已擦写次数的平均值;
比值模块,用于获得所述平均值与所述最大可擦写次数的比值,并将所述比值作为表征所述存储设备寿命状况的寿命指标。
5、根据权利要求1所述的存储设备寿命监控装置,其特征在于,所述存储设备寿命监控装置还包括:
告警模块,用于在所述寿命指标达到预先设定的寿命阈值时输出告警信号。
6、一种存储设备寿命监控方法,其特征在于,所述存储设备寿命监控方法包括如下步骤:
获得存储设备各擦写块的已擦写次数;
根据正常块比例阈值,按照各已擦写次数数值的大小提取数个已擦写次数;
根据所述数个已擦写次数获得表征所述存储设备寿命状况的寿命指标,所述寿命指标由提取的数个擦写块的平均被擦写次数与最大可擦写次数的比值来表征。
7、根据权利要求6所述的存储设备寿命监控方法,其特征在于,所述根据正常块比例阈值,按照各已擦写次数数值的大小提取数个已擦写次数的步骤具体包括:
对各擦写块的已擦写次数排序,生成已擦写次数序列;
确定正常块比例阈值指向的已擦写次数在所述已擦写次数序列中的位置;
根据提取规则及所述位置提取已擦写次数,所述提取规则至少包括提取方式及提取的擦写次数的个数。
8、根据权利要求7所述的存储设备寿命监控方法,其特征在于,所述根据提取规则及所述位置提取已擦写次数的步骤之前还包括:设置提取规则。
9、根据权利要求6所述的存储设备寿命监控方法,其特征在于,所述根据所述数个已擦写次数获得表征所述存储设备寿命状况的寿命指标的步骤包括:
获得所述数个已擦写次数的平均值;
获得所述平均值与所述最大可擦写次数的比值,并将所述比值作为表征所述存储设备寿命状况的寿命指标。
10、根据权利要求6所述的存储设备寿命监控方法,其特征在于,所述存储设备寿命监控方法还包括:在所述寿命指标达到预先设定的寿命阈值时输出告警信号。
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