[发明专利]存储设备、存储设备寿命监控装置及监控方法

说明书

技术领域

本发明涉及电数字处理技术，尤其涉及存储设备，存储设备寿命监控装置及监控方法。

背景技术

现在有多种基于闪存(FLASH)的存储设备，如U盘、SD卡及固态硬盘等。FLASH由多个擦写块组成，擦写块的使用寿命是由最大可擦写次数决定的，超过最大可擦写次数，擦写块就会成为坏块，无法正常读写。从而，需要对存储设备的寿命进行监控，根据已使用寿命及时提示用户备份数据，以免造成数据丢失。

现有的一种寿命监控方案为，对擦写块的已擦写次数进行监控，如果某个擦写块的已擦写次数已到达某一阈值，则认为存储设备的寿命已到期。

现有的这种寿命监控方案针对各擦写块分别监控。虽然为了避免某个擦写块被过度擦写以至于该擦写块过早地先于其他擦写块达到最大可擦写次数，许多基于FLASH的存储设备采用磨损平衡技术，使擦写操作均匀分布在每个擦写块上，但是，现有的磨损平衡(wear leveling)并不能保证擦写操作完全均匀地分布在每个擦写块上，从而，现有的针对各擦写块分别监控的寿命监控方案并不能实现对整个存储设备寿命的监控，这可能导致一些错误的提示信息。

例如，有时，存储设备的许多擦写块的已擦写次数还未到达最大擦写次数，存储设备能够继续使用，但是由于擦写不均匀，某些擦写块的已擦写次数已到达预定的阈值，此时，错误提示用户存储设备寿命到期。

再如，有时，存储设备的一些擦写块的已擦写次数已经到达预定的阈值，应该提示用户存储设备的寿命即将到期，及时进行数据备份。但是，由于这些寿命即将到期的擦写块没有被监控，而被监控的擦写块的已擦写次数还未到达预定阈值，因此并不会提示用户存储设备寿命即将到期。当被监控的擦写块的已擦写次数到达预定阈值，提示用户寿命即将到期时，未被监控的擦写块可能早已无法进行正常读写，从而会造成数据损失。

发明内容

本发明实施例的目的在于，提供存储设备、存储设备寿命监控装置及监控方法，对基于闪存的存储设备的整体寿命进行监控。

为了实现上述目的，本发明实施例提供了一种存储设备寿命监控装置，包括：

擦写次数获得模块，用于获得存储设备各擦写块的已擦写次数；

正常块比例阈值模块，用于存储正常块比例阈值，该正常块比例阈值为当存储设备能够正常使用时，该存储设备中正常擦写块个数与擦写块总数的比值的最小值；

擦写次数提取模块，用于根据正常块比例阈值，按照各已擦写次数数值的大小提取数个已擦写次数；

寿命指标获得模块，用于根据提取出的数个已擦写次数获得表征所述存储设备寿命状况的寿命指标，所述寿命指标由提取的数个擦写块的平均被擦写次数与最大可擦写次数的比值来表征。

为了实现上述目的，本发明实施例还提供了一种存储设备寿命监控方法，包括如下步骤：

获得存储设备各擦写块的已擦写次数；

根据正常块比例阈值，按照各已擦写次数数值的大小提取数个已擦写次数；

根据所述数个已擦写次数获得表征所述存储设备寿命状况的寿命指标，所述寿命指标由提取的数个擦写块的平均被擦写次数与最大可擦写次数的比值来表征。

为了实现上述目的，本发明在提供了一种存储设备，包括存储单元、控制单元及寿命监控单元，该寿命监控单元包括：

擦写次数获得模块，用于获得存储设备各擦写块的已擦写次数；

正常块比例阈值模块，用于存储正常块比例阈值，该正常块比例阈值为当存储设备能够正常使用时，该存储设备中正常擦写块个数与擦写块总数的比值的最小值；

擦写次数提取模块，用于根据所述正常块比例阈值，按照各已擦写次数数值的大小提取数个所述已擦写次数；

寿命指标获得模块，用于根据提取出的数个已擦写次数获得表征所述存储设备寿命状况的寿命指标，所述寿命指标由提取的数个擦写块的平均被擦写次数与最大可擦写次数的比值来表征。

本发明实施例根据正常块比例阈值提取多个擦写块的已擦写次数，并根据多个已擦写次数获得表征存储设备整体寿命状况的指标，实现了对存储设备整体寿命的监控。

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

图1为本发明实施例的存储设备寿命监控装置第一结构示意图；

图2为本发明实施例的存储设备寿命监控装置第二结构示意图；

图3为本发明实施例的存储设备寿命监控装置第三结构示意图；

图4为本发明实施例的存储设备寿命监控方法第一流程图；

图5为本发明实施例的存储设备寿命监控方法第二流程图；