[发明专利]用等离子体原子发射光谱仪测定高纯金中杂质的方法

权利要求书

1.一种用等离子体原子发射光谱仪测定高纯金中杂质的方法，其特征在于方法步骤如下：

1)预置万级洁净的实验室；

2)取高纯金试样，将高纯金试样用盐酸煮沸，用18.2兆欧级去离子水冲洗干净，干燥待用；

3)称取一个单位的样品于200ml石英烧杯中，加入王水，加热低温溶解，待试样完全溶解后转入100ml容量瓶中，补加盐酸，用去离子水定容到刻度，得到试样溶液；

4)分取试样溶液于两支以上的25ml比色管中各15ml，依次成倍数关系加入各待测元素混合的金标准溶液，用去离子水定容；得到浓度由低到高的试样溶液；

5)将等离子体原子发射光谱仪开机预热半小时，开启循环水泵，打开分析控制软件，设置工作参数，点击“点火”按钮，形成稳定的等离子炬焰；选择进入“标准加入法”控制程序，在24种待测元素的谱线库中选择用于测定的谱线，输入曲线各点的浓度值，进行全波段扫描，完成光路校正后，设定重复测量次数；

6)按由低到高浓度顺序将各比色管中的待测试样溶液依次吸入仪器，每次吸入时点“测试”键，得到各元素的初始曲线点，对各曲线点形成的曲线确认后，点击“结果输出”，即可在数据状态栏得出待测元素的浓度值C_n，根据待测元素百分含量的计算公式求得待测元素百分含量结果。

2.根据权利要求1所述的用等离子体原子发射光谱仪测定高纯金中杂质的方法，其特征在于：全部试剂为优级纯度，试样采用红外灯干燥，干燥操作在有机玻璃手套箱中进行。

3.根据权利要求1所述的用等离子体原子发射光谱仪测定高纯金中杂质的方法，其特征在于：步骤4)中分取试样溶液于4支25ml比色管中各15ml，依次成倍数关系加入金标准溶液。

4.根据权利要求1所述的用等离子体原子发射光谱仪测定高纯金中杂质的方法，其特征在于步骤5)中在24种待测元素的谱线库中选择用于测定的谱线为下表中的谱线：

  元素   Ag   Cu   Fe   Pb   Bi   Sb   Si   Pd   波长nm   328.0   324.7   259.9   220.3   223.0   217.5   251.6   324.2   元素   Mg   As   Sn   Cr   Ni   Mn   Al   Be   波长nm   279.5   193.6   189.9   283.5   231.6   257.6   396.1   313.0   元素   Ca   Cd   Co   Ce   La   Ge   Pt   Zn   波长nm   393.3   214.4   228.6   413.7   333.7   265.1   214.4   213.8

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