[发明专利]液晶显示装置阵列基板的制造方法有效

专利信息
申请号: 200710121529.9 申请日: 2007-09-07
公开(公告)号: CN101382712A 公开(公告)日: 2009-03-11
发明(设计)人: 宋泳珍 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;H01L27/12;H01L21/027;H01L21/00;G03F7/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人: 刘 芳
地址: 100176北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 液晶 显示装置 阵列 制造 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种液晶显示装置的制造方法,尤其涉及一种液晶显示装置阵列基板的制造方法。 

背景技术

在液晶显示装置中,阵列基板的制造过程需要重复沉积工艺、掩模工艺、蚀刻工艺和剥离工艺等步骤。其中掩模工艺是必不可少的,因此把工程次数又叫做掩模工艺次数。制造工艺中所使用的光刻胶等消耗材料的价格昂贵,并且工程次数的增加会引起相应设备的增加,因此减少工程群次数是降低产品成本和提高投资效率的有效方法。 

液晶显示装置阵列基板的制造技术经历了7次掩模到4次掩模的发展过程。现在普遍使用的5掩模,即工程次数为5次。同时工程群次数的繁多会导致生产产品的时间过长,同时还会影响生产线的产量。 

发明内容

本发明目的是提供一种液晶显示装置阵列基板的制造方法,有效解决现有技术存在的制造过程繁杂,投资效率和生产能力低下的缺陷。 

为了实现上述目的,本发明提供一种液晶显示装置阵列基板的制造方法,包括: 

第一工程、基板表面依次沉积透明电极层和栅金属层,用第一掩模板蚀刻,形成由透明电极层和栅金属层构成的像素电极、栅线和从栅线分支出来的栅电极; 

第二工程、经过第一工程的基板表面依次沉积栅绝缘层、非晶硅层、重掺杂非晶硅层,用第二掩模板蚀刻,栅绝缘层覆盖住栅线和栅电极,栅电极上方残留非晶硅层和重掺杂非晶硅层,在像素电极上部去掉栅金属层露出透明电极层;

第三工程、经过第二工程的基板表面沉积数据金属层,用第三掩模板蚀刻,即在数据线和源漏电极的上部形成相应的光刻胶图案,通过蚀刻工艺去掉未被光刻胶覆盖的数据金属层,形成源漏电极和数据线,所述源漏电极的间隔区域露出非晶硅层,沉积钝化层,通过剥离工艺去掉剩余光刻胶和位于光刻胶上的钝化层。 

其中,第二掩模板为由非透射区域、半透射区域和透射区域构成的双色调掩模板,包括:非透射区域对应栅电极、半透射区域对应栅线、透射区域对应其余区域,通过第一次蚀刻去掉位于透射区域的重掺杂非晶硅层、非晶硅层栅绝缘层和栅金属层,通过第二次蚀刻去掉位于半透射区域的重掺杂非晶硅层、非晶硅层。 

其中,第三工程还包括以数据金属层形成电容电极,电容电极与数据线和源漏电极相互隔离,电容电极的一端与像素电极电连接、另一端重叠设置在栅线上。 

其中,第一工程还包括:形成与栅线结构相同的公共电极线,公共电极线与栅线平行;第二工程还包括:至少以栅绝缘层覆盖住公共电极线;第三工程还包括:第三工程还包括以数据金属层形成电容电极,电容电极与数据线和源漏电极相互隔离,电容电极一端与像素电极电连接、另一端重叠设置在公共电极线上。 

其中,第三工程还包括,第三工程还包括以数据金属层形成电容电极,电容电极与数据线和源漏电极相互隔离,电容电极一端与像素电极电连接、另一端重叠设置在公共电极线上。 

其中,第一工程还包括:形成与栅线结构相同的公共电极线,公共电极线与栅线平行;第二工程还包括:至少以栅绝缘层覆盖住公共电极线;第三 工程还包括:第三工程还包括以数据金属层形成电容电极,电容电极与数据线和源漏电极相互隔离,电容电极一端与像素电极电连接、另一端重叠设置在公共电极线上。 

其中,栅金属层或数据金属层为AlNd、Al、Cu、Mo、MoW或Cr的单层结构,或者为AlNd、Al、Cu、Mo、MoW,Ti或Cr任意组合所构成的复合结构;栅绝缘层为SiNx、SiOx或SiOxNy的单层结构,或者为SiNx、SiOx或SiOxNy任意组合所构成的复合结构。 

其中,钝化层为SiNx、SiOx或SiOxNy的单层结构,或者为SiNx、SiOx或SiOxNy任意组合所构成的复合结构。 

本发明提示了通过第一工程形成栅线、栅电极和像素电极;通过第二工程在栅线和栅电极上方形成多层结构;通过第三工程形成数据线和源漏电极的技术方案,根据此技术方案可以减少掩模工艺次数为3次,以有效地减少工艺步骤。本发明通过简化制造过程,减少了制造过程中使用的消耗材料,如光刻胶、掩模板等,以降低液晶显示装置的制造成本,并且相应地减少了制造设备、减少生产初期投资的费用,以提高投资效率。另外通过本实施例1提示的技术方案可以提高生产速度,同时还可以提高生产容量。 

附图说明

图1为第一工程中沉积工艺之后的基板截面示意图; 

图2a为第一工程中第一掩模工艺之后的基板平面示意图; 

图2b为图2a的AA截面示意图; 

图3为第一工程中蚀刻工艺之后的基板截面示意图; 

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