[发明专利]用于处理扁平、易碎的基体的方法和装置无效
申请号: | 200710136146.9 | 申请日: | 2007-07-19 |
公开(公告)号: | CN101109095A | 公开(公告)日: | 2008-01-23 |
发明(设计)人: | T·科西科夫斯基 | 申请(专利权)人: | 霍尔穆勒机械制造有限公司 |
主分类号: | C25D7/00 | 分类号: | C25D7/00;C25D19/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 吴鹏;马江立 |
地址: | 德国黑*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 处理 扁平 易碎 基体 方法 装置 | ||
1.一种用于处理特别是用于半导体工业和太阳能工业的扁平、易碎的基体的方法,其中,引导所述基体水平地穿行通过浴液,其中,所述基体的至少一个接触面在这里与接触装置相接触,并由此使该接触面具有一定的电势,该电势与布置在浴液中的对应电极的电势不同,
其特征在于,在接触装置(7)和基体(2)之间的接触区域内将浴液吹走或吸走。
2.按权利要求1的方法,其特征在于,采用空气作为用于吹送的气体。
3.按权利要求1的方法,其特征在于,采用氮气作为用于吹送的气体。
4.按上述权利要求的任一项的方法,其特征在于,跟踪基体(2)的运动路径,并且只是在接触装置(7)与基体(2)的接触面相接触的时间内向至少一个接触装置(7)施加处理基体(2)所需要的电势。
5.按上述权利要求的任一项的方法,其特征在于,在接触装置(7)不与基体(2)的接触面相接触的时间内,向所述至少一个接触装置(7)施加一第二电势,所述电势适于使在处理时通过第一电势运行的反应逆转。
6.一种用于处理特别是用于半导体工业和太阳能工业的扁平、易碎的基体的装置,包括:
a)一用浴液填充到一定液面的浴容器;
b)一输送装置,利用该输送装置可以引导所述基体水平穿行通过浴液;
c)一处理电源;
d)至少一个接触装置,可使所述接触装置与至少一个布置在所述基体上的接触面相接触,此时该接触装置使所述接触面与处理电源的一极相连
e)至少一个对应电极,该对应电极布置在浴液中并与处理电源的另一极相连
其特征在于,
f)所述至少一个接触装置(7)配设有至少一个吹气或抽吸装置(11),所述吹气或抽吸装置设置成可吹空或抽空接触装置(7)和基体(2)的接触面之间的接触区域。
7.按权利要求6的装置,其特征在于,采用空气作为用于吹送的气体。
8.按权利要求6的装置,其特征在于,采用氮气作为用于吹送的气体。
9.按权利要求6至8中任一项的装置,其特征在于,
a)设有位置确定装置(10),可利用该位置确定装置检测每个基体(2)当前的位置;
b)设有控制装置(9),该控制装置根据所述位置确定装置(10)的输出信号只在接触装置(7)与基体(2)的接触面相接触的时间内向所述至少一个接触装置(7)施加处理基体所需要的电势。
10.按权利要求9的装置,其特征在于,在接触装置不与基体的接触面相接触的时间内,所述控制装置向所述至少一个接触装置施加一第二电势,所述电势适于使在处理时通过第一电势运行的反应逆转。
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