[发明专利]智能卡以及测试智能卡的方法

权利要求书

1.一种智能卡，包括：

非易失性存储器，其存储测试程序；以及

中央处理单元CPU，

其中，从复位状态释放CPU以响应测试使能信号，CPU基于预定的标志信息，执行存储在非易失性存储器中的测试程序，并且CPU将测试程序的结果存储在非易失性存储器中。

2.根据权利要求1所述的智能卡，还包括时钟发生器，其输出用于驱动CPU的时钟信号，以响应测试使能信号。

3.根据权利要求1所述的智能卡，还包括用于存储预定的标志信息的标志单元，其中所述预定的标志信息被CPU使用，以确定非易失性存储器的测试模式。

4.根据权利要求1所述的智能卡，其中测试使能信号是电源电压。

5.根据权利要求1所述的智能卡，其中测试程序是用于以内建自测试模式测试非易失性存储器的程序。

6.根据权利要求1所述的智能卡，其中非易失性存储器是闪速电可擦除可编程ROM，即EEPROM。

7.一种智能卡，包括：

第一非易失性存储器；

第二非易失性存储器，其存储测试程序；以及

中央处理单元CPU，

其中从复位状态释放CPU以响应测试使能信号，CPU基于预定的标志信息，执行存储在第二非易失性存储器中的测试程序，并且CPU将测试的结果存储在第一非易失性存储器中。

8.根据权利要求7所述的智能卡，还包括时钟发生器，其输出用于驱动CPU的时钟信号，以响应测试使能信号。

9.根据权利要求7所述的智能卡，还包括用于存储预定的标志信息的标志单元，其中所述预定的标志信息被CPU使用，以确定第一非易失性存储器的测试模式。

10.根据权利要求7所述的智能卡，其中测试使能信号是电源电压。

11.根据权利要求7所述的智能卡，其中测试程序是用于以内建自测试模式测试第一非易失性存储器的程序。

12.一种测试智能卡的方法，包括：

从主机接收测试使能信号；

产生时钟信号以响应测试使能信号；

读取并解译存储在标志单元中的标志信息，以响应时钟信号；

基于解译的标志信息，通过执行存储在非易失性存储器中的测试程序，测试非易失性存储器；并且

将测试结果存储在非易失性存储器中。

13.根据权利要求12所述的方法，还包括从标志单元清除标志信息。

14.根据权利要求12所述的方法，其中测试使能信号是通过多个焊盘之一接收到的电源电压。

15.根据权利要求12所述的方法，其中时钟信号从时钟发生器输出，以响应测试使能信号。

16.根据权利要求12所述的方法，其中测试程序以内建自测试模式测试非易失性存储器。