[发明专利]晶片搬送方法和磨削装置有效
申请号: | 200710141918.8 | 申请日: | 2007-08-16 |
公开(公告)号: | CN101127316A | 公开(公告)日: | 2008-02-20 |
发明(设计)人: | 小泽宽修 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;B24B7/22 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 党晓林 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 晶片 方法 磨削 装置 | ||
1.一种晶片搬送方法,是利用搬送单元来对隔着水层保持在保持台上的晶片进行搬送的晶片搬送方法,其特征在于,
所述搬送单元具有:
搬送臂,其可以相对于所述保持台沿铅直方向和水平方向移动;和
吸盘,其支承在该搬送臂上,用于吸附晶片,
在吸盘中心与保持在所述保持台上的晶片的中心不一致的位置上,在所述吸盘吸附晶片的状态下,所述搬送臂相对于所述保持台沿铅直方向上升,来进行晶片的搬送。
2.一种磨削装置,其具有:吸盘工作台,其用于保持晶片;磨削单元,其对保持在该吸盘工作台上的晶片进行磨削;晶片盒载置部,其载置容纳有晶片的晶片盒;搬入搬出单元,其从载置在该晶片盒载置部上的所述晶片盒中搬出晶片,并且将磨削后的晶片容纳到该晶片盒中;定位单元,其对通过该搬入搬出单元搬出的晶片进行定位;以及搬送单元,其将晶片从所述定位单元搬送到所述吸盘工作台上,其特征在于,所述定位单元包括:保持台,其通过水层形成与晶片大致相同大小和外形的载置面;和供水单元,其向该保持台供水以形成所述水层,并且该定位单元具有这样的结构:隔着所述水层保持晶片,利用水的表面张力使晶片的中心与所述保持台的中心一致,
所述搬送单元具有:搬送臂,其可以相对于所述保持台沿铅直方向和水平方向移动;和吸盘,其支承在该搬送臂上,用于吸附晶片,在吸盘中心与保持在所述保持台上的晶片的中心不一致的位置上,在所述吸盘吸附晶片的状态下,所述搬送臂相对于所述保持台沿铅直方向上升,来进行晶片的搬送。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社迪思科,未经株式会社迪思科许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710141918.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:通信系统、无线通信装置及其控制方法
- 下一篇:冷却装置及其控制方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造