[发明专利]放射线检测器有效
申请号: | 200710142297.5 | 申请日: | 2007-09-14 |
公开(公告)号: | CN101153915A | 公开(公告)日: | 2008-04-02 |
发明(设计)人: | 酒井宏隆 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G01T1/16 | 分类号: | G01T1/16;G01T1/17 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 检测器 | ||
1.一种放射线检测器,包括:
放射线检测单元,其包括检测对光敏感的放射线的放射线传感器、信号放大器、脉冲高度鉴别器以及计数器;
光脉冲发射单元,其被配置为发射用于确认所述放射线检测单元的操作完整性的光脉冲;
发射控制单元,其被配置为控制所述光脉冲发射单元的操作;以及
光路,通过该光路将光从所述光脉冲发射单元引导到所述放射线传感器附近,
所述发射控制单元包括用于调节所述光脉冲发射单元的发射时间特性的机构。
2.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中所述发射控制单元包括时钟发生器、上升沿检测器、三角波发生器、放大器以及脉冲高度鉴别器,并且所述放大器包括被配置为调节所述发射时间特性的放大倍数改变单元。
3.根据权利要求2所述的放射线检测器,其中所述放大倍数改变单元由可变电阻器构成。
4.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中所述发射控制单元包括时钟发生器、上升沿检测器、三角波发生器、放大器以及脉冲高度鉴别器,并且所述脉冲高度鉴别器包括鉴别脉冲高度值改变单元,该鉴别脉冲高度值改变单元被配置为调节所述发射时间特性。
5.根据权利要求4所述的放射线检测器,其中所述脉冲高度鉴别器中的鉴别脉冲高度值改变单元由可变电阻器构成。
6.根据权利要求1所述的放射线检测器,还包括调节入射在所述放射线传感器上的光量的光量调节机构。
7.根据权利要求6所述的放射线检测器,其中所述光量调节机构具有用于改变从朝向所述放射线传感器的所述光路的末端到所述放射线传感器的距离的结构,所述入射光通过所述光路从所述光脉冲发射单元引导到所述放射线传感器附近。
8.根据权利要求1所述的放射线检测器,还包括其中安装所述放射线传感器的电路板,以及设置在所述电路板周围并配置为调节所述放射线的响应特性的滤波器。
9.根据权利要求8所述的放射线检测器,其中该滤波器沿着所述光路的厚度小于该滤波器的其余部分的厚度。
10.根据权利要求8所述的放射线检测器,其中所述滤波器形成有凹槽,所述光路沿着该凹槽设置。
11.根据权利要求8所述的放射线检测器,其中该滤波器中沿着所述光路的一部分由不同于该滤波器的所述其余部分的材料形成。
12.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中所述光路在其尖端具有由与所述光路的材料类似的材料制成的延伸部。
13.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中所述光路由光纤形成。
14.根据权利要求1所述的放射线检测器,还包括设置在所述放射线传感器附近的光传感器,其用于监视发射特性。
15.根据权利要求14所述的放射线检测器,其中根据来自所述光传感器的输出来调节所述光脉冲发射单元的所述发射时间特性。
16.根据权利要求14所述的放射线检测器,其中根据来自所述光传感器的输出来改变从所述光路的所述末端到所述放射线传感器的距离。
17.根据权利要求14所述的放射线检测器,其中根据来自所述光传感器的输出来改变所述放大器的放大倍数或者所述脉冲高度鉴别器的鉴别脉冲高度值。
18.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中所述放射线传感器包括硅二极管、闪烁器和光电倍增器、或者碲化镉制成的半导体。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710142297.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。