[发明专利]放射线检测器

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测放射线的放射线检测器，更具体涉及一种包括采用可连续长时间使用的光脉冲的操作确认单元的放射线检测器。

背景技术

在常规放射线检测器中，被称为缺陷源(bug source)的放射线源设置在放射线检测器的内部或外部。从该缺陷源向放射线检测器发射一定量的放射线，并且评估放射线检测器对入射到该放射线检测器上的放射线的响应，以便确认正在使用的放射线检测器的操作完整性。然而，处理用作缺陷源的放射线源是很复杂的，并且在整个测量范围上难以确认放射线检测器的操作。

在一些不使用缺陷源而使用光敏放射线传感器的放射线检测器中，在放射线检测器中，提供从光脉冲发生器发射的光脉冲，用光脉冲照射放射线传感器，并且检验放射线检测器对光脉冲的响应。

日本专利权公报No.6-72930公开了一种放射线检测器的操作确认单元，其使用光脉冲。用光脉冲照射放射线检测器中的放射线传感器，以便基于来自放射线传感器的响应来检测偏置电压中的任何异常情况。操作确认单元根据放射线检测器对光脉冲的响应是否在预定范围内的事实来检测偏置电压中的任何异常情况。

日本未审专利申请公报No.2006-84345公开了一种通过使用光脉冲来确认放射线检测器的操作完整性的方法。使用光脉冲发射单元作为用于校准的放射线装置。分析与用光脉冲照射的放射线检测器的脉冲高度谱相关的数据，以便评估放射线检测器的操作完整性。

然而，由于校准用的放射线装置在日本专利权公报No.6-72930和日本未审专利申请公报No.2006-84345中公开的放射线检测器中不总是提供恒定量的输出，因此不可能稳定地评估或确认放射线检测器的完整性。这是因为(1)光脉冲发射单元的长时间连续使用改变了光发射的量；和(2)光发射的时间响应特性和放射线的时间响应特性之间的差异可能损害了检测放射线的放射线检测器的功能。

特别地，如果放射线检测器具有校正无感时间的功能，则基于校正无感时间的功能，与放射线的时间响应特性不同的光发射的时间响应特性可能使差异增加。

相应地，当使用现有技术中采用光脉冲的操作确认单元作为临时操作确认单元时，其不会引起问题。然而，当经常使用现有技术中采用光脉冲的操作确认单元时，放射线检测器可能不能准确测量待测量放射线随时间的任何变化。因而，难以连续经常地使用操作确认功能，同时保持放射线检测器作为放射线测量装置的可靠性。

发明内容

鉴于上述现有技术的问题，设计了本发明，本发明的目的是提供一种放射线检测器，其能够使用光脉冲发射单元而不使用放射性材料来长时间确认放射线检测器的操作完整性。

这个和其它目的可以根据本发明来实现，本发明提供一种放射线检测器，包括：放射线检测单元，其包括检测对光敏感的放射线的放射线传感器、信号放大器、脉冲高度鉴别器以及计数器；光脉冲发射单元，其配置为发射用于确认放射线检测单元的操作完整性的光脉冲；发射控制单元，其配置为控制光脉冲发射单元的操作；以及光路，通过该光路将光从光脉冲发射单元引导到放射线传感器的附近，其中发射控制单元包括用于调节光脉冲发射单元的发射时间特性的机构。

在上述方案的优选实施例中，发射控制单元可以包括时钟发生器、上升沿检测器、三角波发生器、放大器和脉冲高度鉴别器，并且放大器包括放大倍数改变单元，该放大倍数改变单元配置为调节发射时间特性。放大倍数改变单元可以由可变电阻器构成。

发射控制单元可以包括时钟发生器、上升沿检测器、三角波发生器、放大器和脉冲高度鉴别器，该脉冲高度鉴别器包括鉴别脉冲高度值改变单元，其配置为调节发射时间特性。脉冲高度鉴别器中的鉴别脉冲高度值改变单元可以由可变电阻器构成。

放射线检测器还可以包括调节入射到放射线传感器上的光量的光量调节机构。光量调节机构具有用于改变从朝向放射线传感器的光路的末端到放射线传感器的距离的结构，将所述入射光从光脉冲发射单元通过光路引导到放射线传感器的附近。

放射线检测器还可以包括其上安装放射线传感器的电路板和位于电路板周围的滤波器，该滤波器用于调节放射线的响应特性。滤波器沿着光路的厚度可以小于滤波器其余部分的厚度。该滤波器可以形成有凹槽，光路沿着凹槽设置。希望滤波器沿着光路的一部分由不同于滤波器的其余部分的材料形成。

光路在其尖端可以具有由与光路材料类似的材料制成的延伸部。

光路可以由光学滤波器形成。